探針式輪廓儀/臺階儀Alpha-Step D500 /D600
探針式輪廓儀/臺階儀Tencor P7 /P17
KLA 白光干涉儀Profilm 3D
KLA 三維光學(xué)輪廓儀Zeta-20
KLA納米壓痕儀G200X
探針式輪廓儀(臺階儀)
Alpha-Step D500 /D600
采用新型光學(xué)反射探測系統(tǒng)測量高度,同時應(yīng)用電磁力控制探針壓力,能有效實現(xiàn)超微力和低慣量。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點是直接測量,與材料特性無關(guān)。多種力度調(diào)節(jié)和探針尺寸選擇可以讓機臺對各種結(jié)構(gòu)和材料進行準確測量。這些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改變,以及測量由材料結(jié)構(gòu)改變引起的粗糙度和應(yīng)力變化。
技術(shù)特點
◆ 優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
◆ 接觸式測量,適用于多種材料
◆ 測量軟材料的微力控制
◆ 梯形失真校正可消除側(cè)視視圖造成的失真
◆ 弧形校正補償探針的弧形運動

應(yīng)用范圍
﹢ 2D/3D 表面形貌掃描
﹢ 納米至1200μm臺階高度測量
﹢ 粗糙度和波紋度測量
﹢ 樣品翹曲和曲率半徑測量
﹢ 2D薄膜應(yīng)力測量

型號 | D500 | D600 | |
臺階高度 | 5nm~1200μm | ||
分辨率 | 0.38? | ||
重復(fù)性 | 5?(1μm臺階) | ||
載力范圍 | 0.03mg~15mg | ||
視頻 | 5MP高分辨彩色相機 | ||
樣品臺 | 140mm手動XY軸,Z軸自動 | 200m三軸自動 | |
單次掃描 | 30mm | 55mm | |
圖像拼接 | 80mm | 200mm | |
梯形失真校正 | 消除側(cè)視視圖造成的失真 | ||
弧形校正 | 消除探針的弧形運動引起的誤差 | ||
掃描模式 | 2D | 2D/3D | |
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已咨詢874次臺階儀
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P-7建立在市場領(lǐng)先的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。
KLA先進的探針式臺階儀Alpha-Step D-600,可測量納米級至1200um臺階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及亞埃級的分辨率
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。
Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。
P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統(tǒng)領(lǐng)先業(yè)界,支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無需圖像拼接。
Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量,以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應(yīng)力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學(xué)器件。
臺階高度:幾納米至1200μm 低觸力:0.03至15mg 視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺式探針式輪廓儀 主要應(yīng)用 臺階高度:2D臺階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力 應(yīng)用領(lǐng)域 大學(xué),研究實驗室和研究所 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽能 MEMS:微電子機械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備