NanoForce 納米機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)
布魯克DektakXT臺(tái)階儀
UMT TriboLab機(jī)械性能與摩擦測(cè)試
ContourGT三維光學(xué)顯微鏡
EC91 防爆微量氧分析儀
布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì),可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰,更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過(guò)在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易,檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
DektakXT WM設(shè)計(jì)
探針系統(tǒng)的評(píng)價(jià)體系受三個(gè)因素影響:能否重復(fù)測(cè)量,數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和ZJ軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素,達(dá)到ZJ的儀器使用效果。
強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable Measurements
DektakXT在設(shè)計(jì)上的幾個(gè)提高,使其在測(cè)量臺(tái)階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺(tái)階高度重復(fù)性可以到達(dá)5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周?chē)h(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對(duì)測(cè)量信號(hào)的影響。同時(shí),Bruker還對(duì)儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善,提高其穩(wěn)定性,降低溫度變化對(duì)它的影響,并采用先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會(huì)把可能引起誤差的噪音降到ZD,DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實(shí)現(xiàn)對(duì)高度小于10nm的臺(tái)階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用,大大降低了掃描臺(tái)的噪音,增強(qiáng)了穩(wěn)定性,使其成為一個(gè)極具競(jìng)爭(zhēng)力的臺(tái)階儀(表面輪廓儀)。
提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis
利用獨(dú)特的直接掃描平臺(tái),DektakXT通過(guò)減少?gòu)牡玫皆紨?shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間,來(lái)提高掃描效率。這一改進(jìn),大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有最有效直觀的用戶界面,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,可以自動(dòng)完成多掃描模式,使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。
完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis
與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實(shí)用簡(jiǎn)潔的用戶界面,具備智能結(jié)構(gòu),可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡(jiǎn)便的實(shí)現(xiàn)各種類(lèi)型數(shù)據(jù)的采集和分析。
DektakXT 技術(shù)參數(shù)
—臺(tái)階高度重復(fù)性5?
—Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性
—前置敏化器件,降低了噪音對(duì)測(cè)量的干擾
—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%
—64-bit,這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。
功能ZY,操作簡(jiǎn)易
—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡(jiǎn)便易行
—針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事
臺(tái)階儀(表面輪廓儀)領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的地位
—布魯克的臺(tái)階儀,體積輕巧,功能強(qiáng)大。
—單傳感器設(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
報(bào)價(jià):面議
已咨詢231次表面分析測(cè)量
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2321次臺(tái)階儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2151次輪廓儀/粗糙度儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2037次德國(guó)Bruker 光譜儀/納米壓痕儀/光學(xué)輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢5571次輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢699次直讀光譜儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢229次輪廓儀/白光干涉儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢3134次臺(tái)階儀
P-7建立在市場(chǎng)領(lǐng)先的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能,并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。
KLA先進(jìn)的探針式臺(tái)階儀Alpha-Step D-600,可測(cè)量納米級(jí)至1200um臺(tái)階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性以及亞埃級(jí)的分辨率
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
P-17是第八代臺(tái)式探針輪廓儀。該系統(tǒng)領(lǐng)先業(yè)界,支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。
Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測(cè)量,以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應(yīng)力測(cè)量。D-600 包含一個(gè)帶有200 毫米樣品載臺(tái)的電動(dòng)樣品臺(tái)和具有增強(qiáng)影像控制的高級(jí)光學(xué)器件。
臺(tái)階高度:幾納米至1200μm 低觸力:0.03至15mg 視頻:500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀 主要應(yīng)用 臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力 應(yīng)用領(lǐng)域 大學(xué),研究實(shí)驗(yàn)室和研究所 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽(yáng)能 MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng) 汽車(chē) 醫(yī)療設(shè)備