"全文請訪問：http://www.spm.com.cn/papers/p49.pdf
用表面粗糙度評定方法和分形幾何方法, 結(jié)合原子力ˆ摩擦力顯微圖象的特點, 編制了包括Ra , Rq, Sm , S, Ka , Kq 及高度分布承載率曲線相關(guān)函數(shù)功率譜和分形維數(shù)等參數(shù)的圖象分析與測量的FORTRAN 程序; 用STR2180和STR21000標(biāo)樣作了高度標(biāo)定, 對國產(chǎn)Nature 磁帶和進(jìn)口Sony 磁帶的原子力ˆ摩擦力顯微圖象進(jìn)行了分析測量. 結(jié)果表明:Nature 磁帶的粗糙度和粒度均比Sony 磁帶的大; 微摩擦力與表面輪廓及表面輪廓斜率之間均有良好的對應(yīng)關(guān)系. 全文請訪問：http://www.spm.com.cn/papers/p49.pdf" 掃描探針顯微鏡(SPM/AFM/STM)