日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統(tǒng) NX9000
日立高分辨型雙束系統(tǒng) NX5000
TM4000PlusIII/TM4000III臺式掃描電鏡
日立掃描探針顯微鏡控制器
掃描電鏡清洗設備ZONESEMⅡ
產(chǎn)品簡介
日立高分辨型雙束系統(tǒng) NX5000

NX5000新型高分辨FIB-SEM雙束系統(tǒng)采用冷場發(fā)射電子槍和全新的Aquila α鏡筒,具有高分辨的觀察能力;同時大束流的離子槍和實時觀察功能使其具有超高的加工效率。特的第三束(Ar)加工可以避免樣品損傷,為超薄樣品和復雜的制備提供了新的解決方案,可以滿足納米材料、半導體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細加工。
主要特點:
1. 高分辨冷場發(fā)射電子槍,實現(xiàn)高分辨觀察(0.7nm@15kV)
2. 全新的Aquila α鏡筒和多探測器實現(xiàn)不同觀察目的
3. 大束流(100nA)、高穩(wěn)定性離子槍實現(xiàn)快速加工
4. 實時觀察、多探針系統(tǒng)和7軸樣品臺等技術有效防止窗簾效應
5. 第三束Ar的引入實現(xiàn)無損和超薄樣品的加工
6. 多種沉積氣體可選
7. 全自動TEM樣品制備
應用領域:
納米材料微加工
半導體及電子元器件加工
生命科學
報價:面議
已咨詢2556次聚焦離子束系統(tǒng)
報價:¥2000000
已咨詢61次FIB 聚焦離子束顯微鏡
報價:¥10000
已咨詢786次雙束聚焦掃描電鏡FIB-SEM
報價:¥5000000
已咨詢163次FIB 聚焦離子束顯微鏡
報價:面議
已咨詢2793次實驗室粘度計
報價:面議
已咨詢6235次場發(fā)射掃描電鏡
報價:¥10000
已咨詢873次雙束聚焦掃描電鏡FIB-SEM
報價:¥10000
已咨詢684次雙束聚焦掃描電鏡FIB-SEM
F-2710通過采用高亮度氙燈和優(yōu)化信號處理系統(tǒng),實現(xiàn)更高的靈敏度。
- 系統(tǒng)模塊升級:提高靈敏度 - 柱塞自動清洗功能 :防止柱塞表面鹽的析出 - 分光器特制蓋板和風量可調的風扇的組合:縮短等的預熱穩(wěn)定時間(DAD檢測器) - 兼做供電模塊的組織器:可放入多個溶劑瓶
EA1280 XRF分析儀專為RoHS(有害物質限制)設計,為需要遵守本指令的企業(yè)提供一致的結果。通過對有害物質的簡單快速的測量,您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。