ZA4000系列搭載日立特別研發(fā)的偏振塞曼校正法和雙檢測器，提供穩(wěn)定的高精度分析。
其中新成員快速序列式火焰機ZA4800使用全新研發(fā)的衍射光柵驅(qū)動，實現(xiàn)多元素快速連續(xù)測試，檢測效率提升30%，打破了AAS測定速度不如ICP的技術(shù)難點。

全波長范圍的高精度背景校正，適用于任何元素，可以校正鈉和鉀等D2燈校正法無法校正的元素。

開機即可測，基線更穩(wěn)定。

采用單獨的檢測器同時捕捉樣品光束與參照光束的信號，可以降低基線噪音。
兩種光束的檢測時間是同步的，從而提升了校正精度。

偏振塞曼校正法可有效抑 制漂移，在吸入空白溶液時吸光度會恢復(fù)到零左右。因此，系統(tǒng)會判斷進樣、測定開始與結(jié)束的時間，并自動執(zhí)行測定。通過語音提示通知何時需要更換樣品。即使是初次使用原子吸收分光光度計的客戶也可以放心操作。

使用石墨爐法進行超痕量分析時，石墨管或樣品進樣系統(tǒng)受到污染會導(dǎo)致分析數(shù)據(jù)不準確。通過“石墨管污染確認”功能，初學(xué)者也能輕松進行分析，并及時發(fā)現(xiàn)儀器污染，節(jié)省預(yù)檢時間。

可提高檢測結(jié)果的準確性。自動檢測到暴沸，會在測定結(jié)果的數(shù)值后面標記“P”。據(jù)此，可以確認是否發(fā)生暴沸，并及時修正升溫程序。

根據(jù)設(shè)定的自動進樣器條件，樣品盤的顯示屏?xí)鶕?jù)樣品以不同顏色顯示標準溶液、基體改性劑等。通過樣品盤的區(qū)分，可以降低放錯樣品的風(fēng)險。

軟件能從Excel提取“樣品名稱”、“重量”和“溶劑體積”等信息，只需點擊“加載樣品表”即可。適合需要單獨管理表格數(shù)據(jù)的用戶。

Cu的吸收波長和Ni的吸收波長很接近，即使是在分析含有大量Ni的電鍍液中的微量Cu，偏振塞曼校正法也能夠進行高精度測定。

ZA4700是一款石墨爐專用機，可以在測定過程對樣品的干燥、灰化、原子化、清除和冷卻等所有過程進行背景校正。它為創(chuàng)建復(fù)雜基體樣品的測定條件提供了重要信息。
使用永磁鐵的偏振塞曼校正法可以進行干燥、灰化階段的背景監(jiān)測。
在鎂的測定中，當(dāng)灰化溫度升高，可以看到鎂在灰化過程中揮發(fā)（左圖）。
當(dāng)灰化溫度降低，揮發(fā)信號消失，可以獲得重現(xiàn)性良好的信號 (右圖) 。

下圖表示使用ZA4800連續(xù)測定6種元素的示例。復(fù)合燈并用，同時點亮6種元素?zé)?，切換每個樣品的波長進行測定。利用偏振塞曼特有的基線穩(wěn)定性和連續(xù)測定，可以大幅提升分析效率。此外，還可以降低樣品的更換頻率，從而減輕操作人員的負擔(dān)。