選擇考量與適配:Sensofar S neox是否適合您?
使用體驗與維護:Sensofar S neox的日常實踐
為研發(fā)創(chuàng)新賦能:Sensofar S neox的科研角色
在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用:Sensofar S neox的價值體現(xiàn)
提升檢測效率:Sensofar S neox的自動化考量

產(chǎn)品特性
S mart的重量約只有S neox的一半(6kg),加上緊湊的外觀使的它在安裝上有更多選擇,例如可以直接在生產(chǎn)在線安裝做分析等。一般來說,在生產(chǎn)的環(huán)境中通常都會有震動或有害物質(zhì)污染等因素而不適合放置量測儀器,但S mart在開發(fā)時已經(jīng)考慮這些因素,一體成形的設(shè)計使得它能承受外部污染或震動影響。

雖然S mart體積較于S neox小,但是同樣保留了白光干涉、相位差干涉、共聚焦(Confocal)、多重聚焦四大功能,在光源部分同樣采用LED光,客戶可以自行彈性選擇要460nm、530nm、630nm或白光等波段。

Sensofar融合共聚焦和干涉技術(shù)讓設(shè)備同時擁有了粗糙度量測、三維形貌及薄膜厚度測量等功能,正是因為這種在全世界獨特的技術(shù)融合,讓S mart光學(xué)輪廓儀的性價比遠高于其他同類型的設(shè)備。
S mart將顯微圖像、共聚焦圖像、共聚焦輪廓、相位差干涉(PSI)、白光干涉(VSI)和高分辨率的薄膜厚度測量的功能集于一體。這種基于zhuanli設(shè)計的Microdisplay技術(shù),簡明易學(xué)的軟件接口使您只需要選對鏡頭,正確對焦并選好測量方式就能快速準(zhǔn)確地獲得所需的信息。
報價:面議
已咨詢1403次三維白光干涉儀
報價:¥10
已咨詢660次表面光學(xué)輪廓儀
報價:¥10
已咨詢715次表面光學(xué)輪廓儀
報價:¥10
已咨詢889次三維共聚焦干涉顯微鏡
報價:面議
已咨詢1321次三維白光干涉儀
報價:¥1800000
已咨詢197次光學(xué)輪廓儀
報價:¥1800000
已咨詢201次光學(xué)輪廓儀
報價:¥1800000
已咨詢217次光學(xué)輪廓儀
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晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結(jié)合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數(shù)自動檢測機PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動晶圓形貌檢測及分選機。
晶圓幾何形貌及參數(shù)紅外干涉自動檢測機使用高精度高速紅外干涉點傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結(jié)合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現(xiàn)的尺寸與結(jié)構(gòu)測量內(nèi)容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 測試)。
專為測量旋轉(zhuǎn)對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計,如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
靈活性和效率 ? 測量系統(tǒng)在實驗室以及生產(chǎn)環(huán)境中均可使用 ? 幾乎可對任何材料進行測量 ? 測量軟件直觀的用戶引導(dǎo)確保了測量過程簡單快速 ? 無需進行耗時的樣品制備(例如,定向、防反射涂層或噴濺涂覆法等) ? 短短幾秒便可完成表面掃描和 2D 輪廓 ? 通過雙向掃描之類的功能可進一步加快原本就很高的測量速度