德國T&S TS-X 輪廓測試儀
德國List-Magnetik FERROMASTER磁導率儀 可用于檢查材料缺陷
德國List-Magnetik FERROMASTER磁導率儀 可用于檢查材料缺陷
德國List-Magnetik FERROMASTER磁導率儀 可用于檢查材料缺陷
德國List-Magnetik FERROMASTER磁導率儀 可用于檢查材料缺陷
儀器詳情
TS-X 輪廓測試儀,X軸承載工件,Z軸進行輪廓掃描,數(shù)據(jù)采集和控制都基于先進的數(shù)字技術。機械基礎是很高質量的花崗巖使用基本元素不需要我們的系統(tǒng)的后續(xù)和復雜的錯誤補償。穩(wěn)定性好,使用壽命長。
德國T&S TS-X 輪廓測試儀產(chǎn)品簡介:
TS輪廓測量儀
GS / GM-X輪廓測量儀
TS-X輪廓測量儀
CV120輪廓測量儀
CV300輪廓測量儀
產(chǎn)品線:
對中夾具 UZ系列
外圓對中夾具 AZ系列
對中水平放置臺 KZT系列
對中夾具 ZS系列
綜合支架 WSE系列
角度調整卡 WSF系列
棱柱支撐 WP/WPS系列
德國T&S TS-X輪廓測試儀:
.X軸和z軸無摩擦的空氣軸承
.測量范圍(280 x 350 m)
.混合陶瓷測點
.X方向的靜態(tài)探測和測量數(shù)據(jù)記錄
.粗糙度檢測模塊是標準供貨的一部分
.承載能力25 kg(可選50kg
.Y軸調整臺可手動和馬達自動調節(jié)
.非接觸式增強型線性光柵尺
.測量系統(tǒng)分辨率1納米
·性價比高
.誤差極限:±(0.85 +L / 100) um[L以毫米為單位的測量路徑](不改變掃描方向)
.在整個測量范圍內都可以進行輪廓和粗糙度測量
.故障限制: ± (0.9 + L/100) μm [L = 測量路徑 (毫米) (共質 TS)
.故障限制: ± (0.85 + L/100) μm [L = 測量路徑 (毫米) (Contuatic TS-X)
.軟件要求: ConturoMatic: W10/ 64Bit可選W7 / 64Bit
德國T&S TS-X粗糙度測量:
.表面粗糙度的測量
(參考表面測量的機械原理)
.測量粗糙度范圍:280 x350毫米
·有效分辨率:1 nm
·測量速度:0.1-0.5毫米/秒
.測量力:7.5 mN(可變調節(jié))
.測量點距離:約0.5微米
·適合粗糙度:Rz> 0.5um, Ra> 0.05um
·精度:5%

報價:面議
已咨詢743次輪廓測試儀
報價:面議
已咨詢928次ConturoMatic TS-X輪廓粗糙度儀
報價:面議
已咨詢906次ConturoMatic TS-X move軸承測量
報價:面議
已咨詢518次軌道式/水浴/脫色搖床
報價:面議
已咨詢48次無線綜合測試儀
報價:面議
已咨詢1532次X射線衍射儀(XRD)
報價:面議
已咨詢689次X射線衍射儀(XRD)
報價:面議
已咨詢990次ConturoMatic CV300輪廓儀
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晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數(shù)自動檢測機PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動晶圓形貌檢測及分選機。
晶圓幾何形貌及參數(shù)紅外干涉自動檢測機使用高精度高速紅外干涉點傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現(xiàn)的尺寸與結構測量內容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 測試)。
專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計,如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡
靈活性和效率 ? 測量系統(tǒng)在實驗室以及生產(chǎn)環(huán)境中均可使用 ? 幾乎可對任何材料進行測量 ? 測量軟件直觀的用戶引導確保了測量過程簡單快速 ? 無需進行耗時的樣品制備(例如,定向、防反射涂層或噴濺涂覆法等) ? 短短幾秒便可完成表面掃描和 2D 輪廓 ? 通過雙向掃描之類的功能可進一步加快原本就很高的測量速度