gb/t2423 有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成： 1 gb/t 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)a: 低溫 2 gb/t 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)b: 高溫 3 gb/t 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法 4 gb/t 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)db: 交變濕熱試驗(yàn)方法 5 gb/t 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ea和導(dǎo)則: 沖擊 6 gb/t 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)eb和導(dǎo)則： 碰撞 7 gb/t 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) 8 gb/t 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ed: 自由跌落 9 gb/t 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cb: 設(shè)備用恒定濕熱 10 gb/t 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦) 電池短路試驗(yàn)機(jī)，電池短路試驗(yàn)設(shè)備，電池短路試驗(yàn)箱 高低溫試驗(yàn)箱 熱空氣消毒箱/干烤滅菌器/干熱滅菌試驗(yàn)箱 熱老化試驗(yàn)箱|換氣式老化箱|高溫老化試驗(yàn)箱 砂塵試驗(yàn)箱防塵試驗(yàn)箱IP等級(jí)防護(hù)試驗(yàn)箱 恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)|低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱 紫外耐氣候試驗(yàn)箱|紫外線老化試驗(yàn)箱|紫外光老化箱 模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)|機(jī)械式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 臭氧老化試驗(yàn)箱|臭氧老化試驗(yàn)機(jī) 電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 淋雨防水試驗(yàn)箱淋雨試驗(yàn)機(jī) 臺(tái)式紫外老化試驗(yàn)箱 換氣老化試驗(yàn)箱/高溫老化試驗(yàn)箱