LAS X 晶粒度專家為鋼材及其他材料的快速結(jié)構(gòu)分析提供了高效環(huán)境。

該徠卡軟件擁有直觀易學(xué)的工作流程，可引導(dǎo)用戶完成各個(gè)分析步驟。利用高 精度邊緣檢測(cè)算法，可研究多種結(jié)構(gòu)及樣本截面類型。

該軟件模塊還包含傳統(tǒng)的體視學(xué)方法，如海恩線性截距法、杰弗里斯平面測(cè)量 法或艾布拉姆斯三圓法。這些方法完全自動(dòng)應(yīng)用，從而直接計(jì)算出晶粒度。

傳統(tǒng)的體視學(xué)方法采用一維方式來近似估算晶粒度，存在一定局限，而LAS X晶 粒度專家則采用特定的二維算法直接測(cè)量晶粒面積。與傳統(tǒng)方法和非數(shù)字方法 相比，這種獨(dú)特的方法具有更高的準(zhǔn)確性。

標(biāo)簽：LAS X晶粒度