數(shù)字相關(guān)器
三維動(dòng)態(tài)光散射儀/納米粒度儀(DLS)
可變角度光散射儀(廣角動(dòng)/靜態(tài)光散射儀)
通孔孔徑分析儀POROLUX Revo X
高分辨流式顆粒成像分析儀
可變角度光散射儀(廣角動(dòng)/靜態(tài)光散射儀)用于顆粒表征。LS Spectrometer是一種可變多角度光散射儀器(V-MALS)。在LS Spectrometer中,檢測(cè)器安裝在可移動(dòng)的臂上,可以對(duì)幾乎任何角度進(jìn)行精確調(diào)整,從而提高測(cè)量靈敏度。LS Spectrometer結(jié)合專利的調(diào)制三維技術(shù)(Modulated 3D)(無(wú)稀釋測(cè)量)和CORENN(改進(jìn)的聚集檢測(cè)),實(shí)現(xiàn)了市場(chǎng)上全面的納米顆粒表征。
- 它能測(cè)量什么?
? 顆粒大小
? 多分散性
? 顆粒形狀
? 粘度
? 分子量
? 樣品結(jié)構(gòu)

- 可變多角度光散射(V-MALS)
與帶有固定角度傳感器的多角度光散射(MALS)儀器不同,LS Spectrometer的檢測(cè)器安裝在樣品池周圍的旋轉(zhuǎn)臂上,因此可以精確可變地調(diào)整到10°至150°之間的任何選定散射角。這有助于顯著提高顆粒大小、聚集檢測(cè)、第二維里系數(shù)、顆粒形狀或分子量等參數(shù)測(cè)量的靈敏度。

- 無(wú)稀釋樣品測(cè)量-調(diào)制三維技術(shù)(Modulated 3D)
DLS和SLS技術(shù)都是基于僅檢測(cè)到單次散射光的假設(shè)。然而,隨著顆粒濃度的增加,多重散射增加并逐漸主導(dǎo)信號(hào)。這在DLS和SLS中都引入了無(wú)法檢測(cè)的系統(tǒng)誤差。無(wú)論重復(fù)測(cè)量多長(zhǎng)時(shí)間或多少次,都無(wú)法消除或檢測(cè)到此錯(cuò)誤。為了克服這個(gè)問(wèn)題,LS Instruments開(kāi)發(fā)了可選的調(diào)制三維技術(shù),可以有效抑制多重散射。調(diào)制三維互相關(guān)技術(shù)使用兩個(gè)激光束同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)散射實(shí)驗(yàn),雖然單次散射的貢獻(xiàn)是相同的,但在兩個(gè)實(shí)驗(yàn)中多重散射的貢獻(xiàn)不同。通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行互相關(guān),從而抑制了多重散射。三維 LS Spectrometer是一款同時(shí)為DLS和SLS提供該技術(shù)的儀器。

- 算法用于改進(jìn)復(fù)雜樣品中的聚集和顆粒檢測(cè)
CORENN算法是一種新的機(jī)器學(xué)習(xí)算法,用于從DLS測(cè)量中提取粒度分布(PSD)。CORENN是一種利用先進(jìn)的信號(hào)近似技術(shù)和對(duì)信號(hào)噪聲的獨(dú)特理論估計(jì)的DLS反演算法,可以得到極其可靠的結(jié)果。這種穩(wěn)健的方法使z終用戶能夠從真實(shí)的DLS實(shí)驗(yàn)中獲得真實(shí)的粒度分布(PSD)。下圖顯示了4nm和45nm的顆粒混合物的DLS測(cè)量結(jié)果,只有CORENN算法能夠準(zhǔn)確得到這兩個(gè)分布。

- 用去偏振動(dòng)態(tài)光散射(Depolarized DLS)表征各向異性粒子
這是一種可以輕松地表征各向異性粒子的技術(shù),并越來(lái)越受到科學(xué)家的關(guān)注:一組兩個(gè)偏振器可以通過(guò)簡(jiǎn)單的DLS測(cè)量來(lái)表征樣品的旋轉(zhuǎn)動(dòng)力學(xué)和各向異性粒子的縱橫比。

- 溫度控制
我們強(qiáng)大的溫度循環(huán)器使您能夠精確控制樣品中的溫度。與其他循環(huán)器相比,它顯著減少了加熱和冷卻時(shí)間。它可以通過(guò)LsLab軟件進(jìn)行預(yù)編程,以實(shí)現(xiàn)不同溫度下的一系列測(cè)量。
- 樣品轉(zhuǎn)角儀
許多適用于光散射的凝膠狀樣品顯示出非遍歷(non-ergodic)行為,從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。LS Instruments公司開(kāi)發(fā)了一種樣品轉(zhuǎn)角儀,可以用適當(dāng)?shù)乃俣刃D(zhuǎn)非遍歷樣品,以獲得正確的結(jié)果。此外,樣品轉(zhuǎn)角儀也可用于使樣品偏離旋轉(zhuǎn)中心,從而能夠使用方形樣品池,樣品中散射光的光程可以減少到小于200微米,這顯著減少了多重散射。
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可變角度光散射儀
| 原理技術(shù) | 動(dòng)態(tài)光散射和靜態(tài)光散射(DLS和SLS),可升級(jí)三維技術(shù)(3D)和調(diào)制三維技術(shù)(Modulated 3D) |
| 樣品體積 | 50μL-4mL |
| 粒度范圍 (Rh) | 0.15nm-5μm* |
| 回旋半徑 | 5nm-5μm* |
| 分子量 | 360-3,600,000Dalton* |
| 角度范圍 | 10°-150° |
| 角度分辨率 | 優(yōu)于0.05° |
| 激光 | 光纖耦合激光器,120 mW,638 nm |
| 激光產(chǎn)品類別 | 1類(class 1) |
| 相關(guān)器 | 320通道, 延遲時(shí)間12.5ns至15小時(shí),自相關(guān)和互相關(guān) |
| 檢測(cè)器 | 兩個(gè)高性能雪崩光電二極管(APD)檢測(cè)器,單模光纖,具有檢測(cè)器噪聲去除功能(準(zhǔn)互相關(guān)模式),量子效率QE65%,暗計(jì)數(shù)<250cps. |
| 激光控制 | 自動(dòng)衰減器-激光強(qiáng)度調(diào)整范圍0.001%-100% |
| 溫度 | 高至90°C |
| 尺寸(長(zhǎng)x寬x高) | 156x84x31cm |
| 軟件 | LsLab軟件,用于數(shù)據(jù)采集和分析,包括Cumulant和CORENN分析、Zimm Plot、Guinier Plot和Debye Plot。 |
| *取決于樣品 |
報(bào)價(jià):面議
已咨詢398次光散射儀
報(bào)價(jià):¥500000
已咨詢5982次粒度儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢645次光散射儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢243次BeSEC光散射檢測(cè)器
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1820次光束整形器
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2558次X射線儀器
報(bào)價(jià):面議
已咨詢460次反射率測(cè)量設(shè)備
報(bào)價(jià):面議
已咨詢73次納米粒度分析
SMILLA(Smart Modular Imaging Laboratory Liquid Analyzer)是一款采用高分辨率流式成像顯微鏡(HiRes-FIM)技術(shù)的前沿模塊化解決方案,用于分析可見(jiàn)及亞可見(jiàn)顆粒。其靈活的設(shè)計(jì)可輕松適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室的特定需求,提供高效、精zhun且可重復(fù)的分析結(jié)果。
Theta Flow Wafer晶圓接觸角測(cè)量?jī)x是一款高端的晶圓全自動(dòng)接觸角測(cè)量?jī)x器。該儀器包括Theta Flow Wafer光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x主機(jī),可配置四個(gè)具有軟件控制、可水平移動(dòng)、可拋棄滴液頭的自動(dòng)滴液器,以及帶自動(dòng)旋轉(zhuǎn)的全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)。
數(shù)字相關(guān)器適用于PCS技術(shù),如動(dòng)態(tài)光散射、熒光相關(guān)光譜、擴(kuò)散波光譜、擴(kuò)散光學(xué)層析成像。
NanoLab 3D是一款緊湊型動(dòng)態(tài)光散射(DLS)粒度測(cè)量?jī)x器,基于開(kāi)創(chuàng)性的專利調(diào)制三維互相關(guān)技術(shù)(Modulated 3D Cross-Correlation)。它有效地抑制了多重光散射,因此大多數(shù)樣品不再需要樣品稀釋。
可變角度光散射儀(廣角動(dòng)/靜態(tài)光散射儀)用于顆粒表征。LS Spectrometer是一種可變多角度光散射儀器(V-MALS)。在LS Spectrometer中,檢測(cè)器安裝在可移動(dòng)的臂上,可以對(duì)幾乎任何角度進(jìn)行精確調(diào)整,從而提高測(cè)量靈敏度。LS Spectrometer結(jié)合專利的調(diào)制三維技術(shù)(Modulated 3D)(無(wú)稀釋測(cè)量)和CORENN(改進(jìn)的聚集檢測(cè)),實(shí)現(xiàn)了市場(chǎng)上全面的納米顆粒表征。
POROLUX BP是一款泡點(diǎn)測(cè)試儀,用于測(cè)量過(guò)濾和分離應(yīng)用介質(zhì)中的Z大孔徑(通常稱為“泡點(diǎn) (BP)”)。 POROLUX BP可在0 bar (0 psi) 至 5 bar (75 psi) 的壓力范圍內(nèi)快速準(zhǔn)確地提供泡點(diǎn)結(jié)果,并可檢測(cè)約300 μm 至 0.13 μm的孔隙。 由于其簡(jiǎn)化的操作,POROLUX BP 為 BP dPL(起泡點(diǎn)測(cè)量為與用戶定義的壓力增加的線性度的偏差)和 BP x-ml(在用戶定義的流量下測(cè)量的起泡點(diǎn))提供了高度可重復(fù)的結(jié)果速度)。這使得 POROLUX BP 成為許多生產(chǎn)過(guò)濾和分離介質(zhì)的公司進(jìn)行質(zhì)量控制和/或研發(fā)的明確選擇。
POROLIQ 是一種液液通孔分析儀(LLP),可根據(jù)步進(jìn)/平衡型方法確定孔徑。這意味著只有在滿足用戶定義的壓力和流量穩(wěn)定性算法的情況下才接受數(shù)據(jù)點(diǎn)。 POROLIQ 被廣泛認(rèn)為是市場(chǎng)上先進(jìn)準(zhǔn)確的液液法通孔分析儀之一。 適合檢測(cè)非常小的孔隙,以及表征中空纖維等壓敏膜。