布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD
電子背散射衍射EBSD
布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD eflash FS
布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD
德國(guó)布魯克 背散射衍射儀 QUANTAX EBSD
布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD
核心參數(shù)
產(chǎn)地類別：進(jìn)口
CCD相機(jī)分辨率：640 x 480
極限速度：最快移動(dòng)速度可達(dá) 10mm/s
空間分辨率：1.5nm
角分辨率：0.1°
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測(cè)器，是 SEM分析納米材料中的理想化解決方案。原因如下：
提供 1.5 nm 的空間分辨率
在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測(cè)試電流進(jìn)行測(cè)試
在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的僅有的 TKD 解決方案
全自動(dòng)內(nèi)置 ARGUS 成像系統(tǒng)
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eWARP 是一款革命性的 EBSD 探測(cè)器，采用布魯克公司專利的直接電子探測(cè)技術(shù)，大幅提升了 EBSD 的速度與靈敏度，將EBSD技術(shù)推向全新高度。從第一性原理出發(fā)，布魯克公司開發(fā)了全新混合像素傳感器及控制系統(tǒng)，從根本上突破了 EBSD 探測(cè)器靈敏度和分析速度的極限，使得 eWARP 成為有史以來采集速度更快、靈敏度更高的 EBSD 探測(cè)器。
許多冶金與材料科學(xué) 研究都能從直接觀察樣品在 SEM 內(nèi)的加熱實(shí)驗(yàn)中獲益。新型 Murano 加熱臺(tái)能夠使我們動(dòng)態(tài)地觀察樣品在加熱過程中的相變、再結(jié)晶、晶粒生長(zhǎng)與氧化現(xiàn)象。
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