TESCAN鎢燈絲掃描電鏡VEGA
澤攸ZEM20：面向廣泛材料的觀察伙伴
澤攸ZEM20：兼顧清晰成像與穩(wěn)定運(yùn)行
澤攸ZEM20：優(yōu)化實(shí)驗(yàn)室的工作流程
澤攸ZEM20：失效分析的高效起點(diǎn)
澤攸ZEM20：觀察非導(dǎo)電材料的考量
主要特點(diǎn):
完全集成的 TESCAN Essence? EDS 分析平臺，在 Essence? 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。
TESCAN 采用獨(dú)特的無機(jī)械光闌設(shè)計，采用實(shí)時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing?）的zhuanli技術(shù)，可幫助用戶快速獲得電鏡合適的成像及分析條件。
獨(dú)特的大視野光路（Wide Field Optics?）設(shè)計，最低至2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實(shí)現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。
直觀、模塊化的 Essence? 軟件設(shè)計，不同經(jīng)驗(yàn)等級的用戶均可輕松操作。
在樣品臺及裝置的樣品運(yùn)動過程中，Essence? 3D 防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝樣品室內(nèi)的探測器及樣品臺的位置信息，提供安全性的保護(hù)。
SingleVac? 模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置，為觀測不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
可選配的真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟(jì)效益的電子顯微鏡。
模塊化分析平臺，可選配集成最多種類的探測器和附件（如陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。
大視野設(shè)計，實(shí)現(xiàn)低倍精確導(dǎo)航
利用大視野光路(Wide Field Optics?)技術(shù)，用戶可通過掃描窗口實(shí)時觀察樣品，直接實(shí)現(xiàn)感興趣位置的精確導(dǎo)航。大視野光路技術(shù)取代了傳統(tǒng)的CCD導(dǎo)航相機(jī)，提供無與倫比的大景深，同時也提供樣品實(shí)際形貌的圖像，實(shí)現(xiàn)更直觀、先進(jìn)的樣品導(dǎo)航過程。在 SEM 觀測窗口中，最小2倍的放大倍率保證了大視野無畸變的圖像實(shí)時觀測，可連續(xù)放大感興趣的區(qū)域，無需光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)。實(shí)時的SEM窗口同樣可與預(yù)傾斜樣品臺（如 EBSD 預(yù)傾臺）配合使用，對于需要傾斜分析的樣品，支持掃描傾斜校正，從而實(shí)現(xiàn)更精確的導(dǎo)航。
自動操作
通過一次點(diǎn)擊就可以進(jìn)行自動燈絲加熱和電子槍對中。眾多的自動程序減少了用戶的操作時間，并提供了操作的自動導(dǎo)航與自動化分析。通過內(nèi)置腳本語言（Python）用戶可以進(jìn)入軟件大多數(shù)功能，包括電鏡控制、樣品臺導(dǎo)航、圖像采集、處理與分析。通過腳本語言用戶也可以自定義軟件的自動操作。
全新的 EssenceTM 電鏡控制軟件
用戶界面有各種語言版本。
集成的 Essence? EDS 能譜軟件，輕松快捷地實(shí)現(xiàn)從成像切換到元素分析，通過軟件一鍵即可實(shí)現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。
具備快速搜索功能、命令撤消及參數(shù)預(yù)設(shè)等多種功能，幫助用戶高效、快捷地完成分析工作。
允許用戶設(shè)定符合其自身體驗(yàn)水平或特定應(yīng)用的工作流程。
Essence? 防碰撞模型軟件能夠直觀的模擬出樣品室內(nèi)情況，有效避免碰撞的發(fā)生。
內(nèi)置的自動系統(tǒng)檢查。
通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)可實(shí)現(xiàn)電鏡遠(yuǎn)程診斷。
模塊化軟件體系結(jié)構(gòu)。
標(biāo)準(zhǔn)的軟件模塊包括了：光電聯(lián)用、測量工具、圖像處理、對象區(qū)域等。
選配軟件包括了：顆粒度分析、三維表面重構(gòu)等。
軟件：
測量軟件, 公差測量軟件
圖像處理
預(yù)設(shè)參數(shù)
直方圖及LUT
SharkSEM? 基礎(chǔ)版 (遠(yuǎn)程控制)
3D 防碰撞模型軟件
對象區(qū)域
光電聯(lián)用
定時關(guān)機(jī)
CORAL?（用于生命科學(xué)的電鏡模塊）
自動拼圖軟件
樣品觀察
TESCAN Flow? (離線處理軟件)
根據(jù)實(shí)際配置和需求
探測器和附件：
皮安計，包含防碰撞報警功能
樣品室內(nèi) Everhart-Thornley 式二次電子探測器 (SE)
用于觀察樣品室內(nèi)部情況的紅外攝像機(jī)
可伸縮-閃爍體式背散射電子探測器
陰極熒光探測器
共聚焦拉曼光譜
其它各種附件可供選擇
報價：￥10000
已咨詢725次鎢燈絲掃描電鏡
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S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡（簡稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場，物鏡為半浸沒式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探測器設(shè)計上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機(jī)型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能，還對用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，簡單化，從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統(tǒng)，在進(jìn)行獲得樣品表面像的時候，還可以對樣品的某個定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例，進(jìn)行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，ding級X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM，利用曝光抗蝕劑，采用電子束直接曝光，可在各種襯底材料表面直寫各種圖形，圖形結(jié)構(gòu)（Z小線寬為10nm），是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件，光子晶體，低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300，專利Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，卓越的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，頂級X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。
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