二手 日立S-4800 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡
二手 JEOL 掃描電鏡 IT-100/200/300
二手 HITACHI S-4800冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
二手 日立 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡 HTACHI S-4800
二手 日本電子 sem+edx 掃描電鏡
二手 日立 SEM+EDX 冷場(chǎng)電鏡
二手 日立 S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡應(yīng)用領(lǐng)域
用于觀察材料表面的微細(xì)形貌、斷口及內(nèi)部組織，并對(duì)材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析，主要用途如下：
1：金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察；
2：材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；
3：:金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測(cè)定；
4： 納米材料及其它無機(jī)或有機(jī)固體材料的粒度觀察和分析 ；
5：進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。
性能指標(biāo)：
| 二次電子分辨率 | 1.0nm (15kV) 2.0nm (1 kV) 1.4nm (1 kV，減速模式) |
| 電子槍 | 冷場(chǎng)發(fā)射電子源 |
| 加速電壓 | 0.5~30kV(0.1KV/步，可變) |
| 放大倍率 | x 20~ x 800,000 |
| 物鏡光闌 | 4孔，真空外選擇和調(diào)校(內(nèi)置加熱器) |
| 檢測(cè)器 | 二次電子檢測(cè)器 (高位/低位) 背散射電子檢測(cè)器(可選) EDX(可選) 透射電子檢測(cè)器(可選) 法拉第杯(可選) |
| 樣品臺(tái) | l型: X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5°~70°R:360° 驅(qū)動(dòng):手動(dòng)(可選3軸/5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)) ll型: X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm Z: 1.5 ~40 mm T: -5°~ 70° R: 360°驅(qū)動(dòng): 5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
| 操作/顯示 | 操作系統(tǒng)： WindowsTM XP |
| 圖像儲(chǔ)存 | 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920,5,120 x 3,840 |
| 圖像編輯 圖像文件格式 | 內(nèi)置圖像處理軟件和圖像編輯軟件 BMP, TIFF, JPEG |
| 掃描速度 | TV/慢速 (0.5 ~ 40 s/幀) 用于觀察 慢速 (40 ~ 320 s/幀) 用于記錄 |
| 自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄 | 膠卷號(hào)，加速電壓，微米標(biāo)尺，放大 倍率，日期，時(shí)間，工作距離 |
| 電子圖像移動(dòng) | ±12μm ( W.D. = 8 mm) |
| 真空系統(tǒng) | 自動(dòng)調(diào)節(jié) 離子泵 3 臺(tái) 渦輪分子泵(磁浮型) 1 臺(tái) 機(jī)械泵 1 臺(tái) |
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S-4800型高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（簡(jiǎn)稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場(chǎng)，物鏡為半浸沒式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒式冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場(chǎng)電鏡SU8000系列高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào)，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測(cè)；結(jié)合選配的STEM探測(cè)器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場(chǎng)電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對(duì)不同樣品的測(cè)試和保持并發(fā)揮出高性能，還對(duì)用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，簡(jiǎn)單化，從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統(tǒng)，在進(jìn)行獲得樣品表面像的時(shí)候，還可以對(duì)樣品的某個(gè)定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例，進(jìn)行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察，ding級(jí)X射線分析設(shè)計(jì)，便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì)，超大空間，多接口，升級(jí)靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM，利用曝光抗蝕劑，采用電子束直接曝光，可在各種襯底材料表面直寫各種圖形，圖形結(jié)構(gòu)（Z小線寬為10nm），是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件，光子晶體，低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300，專利Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，卓越的低電壓性能，In Lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察，頂級(jí)X射線分析設(shè)計(jì)，便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì)，超大空間，多接口，升級(jí)靈活。
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