X射線-熒光雙模態(tài)成像系統(tǒng)
高分辨率X射線成像系統(tǒng) 高分辨率X射線成像系統(tǒng)
X射線探測器
X射線分離行為分散儀
X射線熒光光譜儀-德國斯派克SPECTRO XEPOS能量色散X射線熒光光譜儀
儀器簡介：
理學(xué)臺式波長色散X射線熒光光譜儀,它很好的解決了能量色散難于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,組分較為復(fù)雜的樣品定性分析方面,發(fā)揮了極大的作用.
具有WDX特有的良好波長分辨率.可輕易分開Al和Si元素的能譜峰,并對其實行定量分析.
具有WDX特有的良好的輕元素的高靈敏度,分析元素范圍從9F-92U.
無需液氮和冷卻水.
主要特點：
小型化與高性能的完 美結(jié)合.
引入了小型化和WDX優(yōu)異的特性相結(jié)合的新概念.
打破尺寸概念,開創(chuàng)臺式新局面.
可根據(jù)研究開發(fā),質(zhì)量管理的不同應(yīng)用目的進行選擇.
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已咨詢871次精巧型波長色散X射線熒光光譜儀
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已咨詢319次日本理學(xué)Rigaku
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已咨詢802次X射線儀器
報價：￥1500
已咨詢2379次臺式波長色散型X射線熒光光譜儀XRF
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已咨詢1743次X射線熒光光譜儀
采用水平雙桿差動法，糾正和消除了波動造成的漂移。
先進的爐體結(jié)構(gòu)。 強大的軟件功能。
室溫-1500℃
使用雙桿差動膨脹測量系統(tǒng)，消除測量機制本身熱膨脹/收縮造成的影響。
該產(chǎn)品采用一體化設(shè)計，集成Skimer專利技術(shù)，可實現(xiàn)四項測試實時同步進行，有效避免外界干擾。其獨特的接口設(shè)計及無碎片光離子化技術(shù)，質(zhì)量數(shù)高達400，能全面覆蓋并準(zhǔn)確測量逸出氣體中的微量氫。
該系統(tǒng)結(jié)合了θ - θ型x射線衍射儀和DSC，可以在相同的溫度和氣氛下同時測量DSC和XRD。同時得到有關(guān)相變溫度和能量的信息及相變前后的晶體狀態(tài)。
該設(shè)備是一款高性能的波長色散型X射線熒光光譜儀，適用于從鈹?shù)解櫟脑胤治?。配置?kW或3kW的端窗式Rh靶X射線管、雙真空系統(tǒng)和可選的48樣品自動交換器。
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Be-U高靈敏度、高精度分析 2.可同時分析40種元素 3.采用固定道扣背景專利技術(shù)，可選配輕、重元素掃描測角儀
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