創(chuàng)譜儀器 TableXAFS 桌面式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)光譜儀 XAFS
創(chuàng)譜儀器 TableXAFS 桌面式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)光譜儀 XAFS
Quantum Design XAFS300+ 臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 XAFS
Quantum Design XAFS300 臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 XAFS
Quantum Design XES150 臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 XAFS
XAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
技術(shù)特點/ FEATURES
XAFS現(xiàn)象來源于吸收原子周圍最鄰近的幾個配位殼層原子的貢獻,主要取決于短程有序作用,不依
賴晶體結(jié)構(gòu)。因此可用于非晶態(tài)材料的研究,像催化劑上活性中心、表面層結(jié)構(gòu)、生物酶中金屬蛋白
和無定形材料的研究,以及液體、氣體材料的研究等

產(chǎn)品特點 Product Features
● ?持近邊快掃功能
● 不同樣品、不同測量模式?鍵?動切換
● ?持原位測試等擴展功能
● 遠程數(shù)據(jù)傳輸,實時顯?實驗進程和結(jié)果?持??值守測試
● ?體?學(xué)?度設(shè)計,操作更便捷
● 專業(yè)的應(yīng)?技術(shù)?持和數(shù)據(jù)分析?持
● 內(nèi)置軟件,實驗參數(shù)預(yù)置,實現(xiàn)快速測量
● 儀器具有輻射豁免資質(zhì)和多重安全防護聯(lián)鎖,保證??和使?安全




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