捷克泰思肯 TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA COMPACT 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 集成礦物分析儀 TIMA-X FEG(LM)
產(chǎn)品介紹:
RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術(shù),在一個集成的顯微鏡系統(tǒng)中結(jié)合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術(shù),這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征,提供了明顯的優(yōu)勢。
掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內(nèi)樣品表面結(jié)構(gòu)的可視化技術(shù),而共焦拉曼成像是表征樣品化學(xué)和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)還可以同時得到樣品的2D、3D圖像,以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結(jié)果。
引領(lǐng)變革 全方位拓展分析
RISE Microscopy是一款創(chuàng)新性的產(chǎn)品,是世界上di一臺真正實用化的掃描電鏡-拉曼光譜儀聯(lián)用系統(tǒng)。通過實現(xiàn)原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以極大的拓展分析應(yīng)用,在有機結(jié)構(gòu)解析、碳結(jié)構(gòu)解析、無機相鑒定、同分異構(gòu)分析、結(jié)晶度分析等領(lǐng)域作出重大突破。
目前,RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)在地質(zhì)、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學(xué)、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領(lǐng)域均有了非常豐富的應(yīng)用。
無論您是怎樣的客戶 RISE顯微鏡都適合您
作為掃描電鏡用戶,您將會受益于拉曼光譜分析與掃描電鏡成像技術(shù)結(jié)合的優(yōu)勢。RISE顯微鏡采用平行軸設(shè)計,使得電鏡的各種探測器和附件(如BSE, CL, EDS等)在聯(lián)用系統(tǒng)中都可以配置使用。
作為拉曼光譜用戶,您將會體驗到掃描電鏡與拉曼光譜聯(lián)用分析的拓展性和易用性。傳統(tǒng)的拉曼光譜儀由于沒有光學(xué)物鏡,分辨率受限于激光束斑大小,難以達到理論上的衍射極限,處于幾個μm的水平。而RISE顯微鏡不但擁有高數(shù)值孔徑的光學(xué)物鏡聚焦激光束斑,還能夠通過束斑的掃描運動來進行成像,zui終的拉曼圖像分辨率突破了傳統(tǒng)的衍射極限,達到了360nm(532nm激光)。
定制化系統(tǒng)功能:
q 平行軸式設(shè)計,保證樣品臺分別在電子束和激光束下的jing準(zhǔn)定位
q 基于TESCAN超大樣品倉定制,擁有豐富的接口和極強的承高承重能力
q 同時具備電鏡和光鏡,配合X-Position功能,實現(xiàn)和任意光學(xué)照片及Mapping數(shù)據(jù)的聯(lián)用
q 可集成電鏡的各種探測器和分析附件,進一步拓展分析應(yīng)用
q 點、線、面的拉曼成像分析,疊加圖像能夠提供極其豐富的數(shù)據(jù)信息
q 突破傳統(tǒng)的衍射極限,拉曼圖像分辨率可達360nm (532nm激光)
q 共聚焦功能實現(xiàn)光學(xué)物鏡的三維逐層掃描,進行三維拉曼光譜成像
q 聯(lián)用系統(tǒng)的掃描電鏡部分和拉曼光譜儀部分可完全獨立使用
q 聯(lián)用系統(tǒng)可以集成在TESCAN任意掃描電子顯微鏡產(chǎn)品
無論哪個領(lǐng)域 RISE顯微鏡都會給您提供獨特的方案
RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)特別適合于有機結(jié)構(gòu)解析、碳結(jié)構(gòu)解析、無機相鑒定、同分異構(gòu)分析、結(jié)晶度分析等領(lǐng)域的分析應(yīng)用。目前,RISE顯微鏡在地質(zhì)、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學(xué)、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領(lǐng)域均有了非常豐富的應(yīng)用。
碳材料
有機材料
二維材料
無機材料
共聚焦分析
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報價:面議
已咨詢5241次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
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S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測器設(shè)計上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測;結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外,為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能,還對用戶輔助工能進行了強化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進行獲得樣品表面像的時候,還可以對樣品的某個定點位置進行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設(shè)計,便越操作系統(tǒng)設(shè)計,超大空間,多接口,升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件,光子晶體,低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300,專利Gemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,卓越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,頂級X射線分析設(shè)計,便越操作系統(tǒng)設(shè)計,超大空間,多接口,升級靈活。