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悉識(shí)科技光學(xué)反射式膜厚測(cè)量?jī)x 納米級(jí)厚度的測(cè)量應(yīng)用

來(lái)源：蘇州悉識(shí)科技有限公司更新時(shí)間：2025-06-17 11:25:36 閱讀量：889

導(dǎo)讀：光學(xué)反射式膜厚測(cè)量?jī)x利用垂直入射的高穩(wěn)定寬波段光入射到樣品表面，在各膜層之間產(chǎn)生光學(xué)干涉現(xiàn)象，反射光經(jīng)過(guò)光譜分析以及回歸算法可計(jì)算出薄膜各層的厚度。

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