在當(dāng)今科學(xué)研究不斷向極微觀領(lǐng)域深入探索的趨勢下,對研究對象精細(xì)化表征以及研究過程可視化的需求與日俱增。美國Quantum Design公司研發(fā)推出的AFM/SEM/EDS多功能顯微鏡FusionScope,巧妙地將二維大視野范圍尋找目標(biāo)區(qū)域的掃描電子顯微鏡(SEM)、三維立體精細(xì)掃描原子力顯微鏡(AFM)以及X射線元素分析定量測試的能譜儀(EDS)集于一體,能夠在-10°-80°的側(cè)向視野下對樣品進行觀測。這一突破性的設(shè)計不僅實現(xiàn)了高分辨率成像,還提供了一種在時空間的原位測試解決方案,可針對樣品的能譜,電學(xué),磁學(xué)和力學(xué)性能進行實時表征,從多個層面實現(xiàn)對樣品目標(biāo)區(qū)域的多角度、全方位分析,為科研人員呈現(xiàn)直觀、準(zhǔn)確的表征結(jié)果。
自FusionScope問世以來,便在科研領(lǐng)域備受矚目。以下將通過一系列具體應(yīng)用案例,深入展示其在材料表征、動態(tài)力學(xué)測試、磁學(xué)研究、電學(xué)結(jié)果等眾多領(lǐng)域的超卓性能和重要價值。
圖1 AFM/SEM/EDS多功能顯微鏡FusionScope
掃碼即刻咨詢/體驗設(shè)備吧!
在材料表征領(lǐng)域,F(xiàn)usionScope展現(xiàn)出了對復(fù)雜形貌進行多維度、全方位研究的能力。以表面形貌極為復(fù)雜的維生素C顆粒為例,研究人員借助AFM/SEM/EDS多功能顯微鏡FusionScope的SEM識別特定單個顆粒的能力,將懸臂尖端精確引導(dǎo)至目標(biāo)區(qū)域,同時利用側(cè)向視野觀察AFM的實時動態(tài)測量過程。最后結(jié)合SEM成像、AFM形貌測量以及力-距離曲線分析,研究人員獲取了單個顆粒的形態(tài)、表面粗糙度信息以及探針尖端被顆粒污染的可能性,為增強顆粒研究和分析方法奠定了堅實的基礎(chǔ)。
圖2 SEM側(cè)向視野中探針尖端靠近樣品表面
圖3 側(cè)向視野中觀察到的傾斜樣品力學(xué)曲線測量動態(tài)過程
圖4 SEM圖像顯示了在獲取力-距離曲線時懸臂梁的位置,為了說明納米顆粒在力-距離曲線中的運動,在SEM 圖像中添加了水平虛線將其分成了三段(a-c)。圖(1)和圖(2)之間的力-距離曲線顯示懸臂在接觸顆粒之前的恒定偏折;另一方面,在圖(2)-(3)之間顯示了偏折量的增加,該變化是由于探針將顆粒向下推到了表面;最后綠色曲線所示陡峭的力增長是由于納米顆粒完全定格至底部,完整的力曲線如圖(d)所示。
對于不同組分的磁性自旋體納米棒,精確分析其結(jié)構(gòu)與磁性之間的關(guān)系至關(guān)重要。研究人員通過調(diào)整組分比例制備了Ni81Fe19納米棒組裝體,利用FusionScope進行了形貌定位掃描并精準(zhǔn)關(guān)聯(lián)AFM以及SEM數(shù)據(jù),成功對三種不同結(jié)構(gòu)的磁性結(jié)果進行了關(guān)聯(lián)分析。
圖5 SEM 側(cè)向視野實時觀察懸臂梁對樣品表面掃描并且精細(xì)關(guān)聯(lián)SEM與AFM結(jié)果
圖6 樣品納米棒兩端的磁性差異結(jié)果
FusionScope在電學(xué)性能測試方面同樣表現(xiàn)出色。在研究硅基底上互相連接的8根電極的電學(xué)性能時,儀器搭載的納米機械手發(fā)揮了重要的作用。研究人員通過有選擇地偏置單個電極,進行靜電力原子力測量,在側(cè)向視野下,將兩個納米機械手放置在電極結(jié)構(gòu)上,從而實現(xiàn)對樣品表面的電荷分布進行精確表征。
圖7 通過SEM側(cè)向視野的引導(dǎo),將兩個微操作器精確定位在電極樣品的兩端,同時,導(dǎo)電AFM探針準(zhǔn)確落在兩個微操作器的中間;AFM形貌圖,電流二維圖以及線圖
同上述實驗相似,將兩個微操作器放置于金電極樣品表面,偏置兩個最內(nèi)側(cè)的電極,在偏置電極結(jié)構(gòu)的頂部進行EFM測量。測量期間,施加的偏置電壓從+2V切換到-2V,如圖8所示,由于施加偏置電壓的切換,EFM信號顯示出明顯的相移。
圖8 通過改變偏壓導(dǎo)致EFM信號出現(xiàn)了明顯的相偏移
圖9 4個Kleindiek納米機械手集成到FusionScope系統(tǒng)中的實物圖,固定在樣品臺表面可實現(xiàn)耳軸的80°同步旋轉(zhuǎn)。
在元素分析方面,F(xiàn)usionScope的SEM、AFM和EDS三合一功能展現(xiàn)出強大的優(yōu)勢。以功能化磁性納米顆粒研究為例,SEM的寬視場用于快速定位顆粒,為后續(xù)的AFM掃描成像提供目標(biāo)區(qū)域。AFM的形貌和相位圖像有助于對顆粒表面進行高分辨率成像分析,尤其對于單個顆粒的AFM形貌掃描,可以獲得更多三維信息的細(xì)節(jié)。EDS可以準(zhǔn)確識別顆粒內(nèi)層的鐵芯,結(jié)合SEM-EDS的關(guān)聯(lián)圖像,研究人員可以深入了解鐵芯的尺寸以及有機聚合物外殼的厚度。這種對納米顆粒從形貌到元素組成的全面分析,對納米材料等領(lǐng)域的研究具有重要意義。
圖10 納米顆粒的SEM-AFM關(guān)聯(lián)圖像,通過在SEM視野中尋找分散性良好的單個納米顆粒,實現(xiàn)該位置精準(zhǔn)導(dǎo)航并完成AFM形貌與相位掃描,得到二者的疊加圖像
圖11 15keV時納米顆粒的SEM-EDS關(guān)聯(lián)圖像,X射線可以分析納米顆粒中鐵元素的分布
在生命科學(xué)領(lǐng)域,對一些難以觸及的樣品區(qū)域進行SEM/AFM分析非常具有挑戰(zhàn)性,例如對骨組織的微觀結(jié)構(gòu)分析,尤其是骨表面的空隙和膠原纖維的詳細(xì)測量。FusionScope可對空隙結(jié)構(gòu)進行快速簡便的識別和成像,為這一難題提供了有效的解決方案。利用設(shè)備SEM的大視野功能,研究人員可以快速識別骨組織表面的空隙結(jié)構(gòu),并將懸臂直接定位在目標(biāo)空隙結(jié)構(gòu)上。隨后,通過AFM的高分辨成像能力,實現(xiàn)對空隙和膠原纖維亞納米分辨率的真實3D形貌表征。這一突破性技術(shù)為深入研究骨組織等特殊結(jié)構(gòu)提供了直觀的圖像依據(jù),有助于推動生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究進展。
圖12 懸臂導(dǎo)航至骨組織表面上并對空隙結(jié)構(gòu)進行AFM高分辨率掃描
FusionScope通過SEM實現(xiàn)對AFM針尖的實時、快速、精確導(dǎo)航,確保AFM對感興趣區(qū)域進行精準(zhǔn)定位與測量。在測量過程中,無需轉(zhuǎn)移樣品,可原位進行-10°-80°AFM與樣品臺同時旋轉(zhuǎn),并且研究人員可以實時觀察到AFM懸臂的尖端,這種特有的剖面工作方式使得對難以到達樣品區(qū)域的精確測量成為可能。憑借SEM-AFM-EDS三合一的強大功能,F(xiàn)usionScope在材料科學(xué),失效分析,半導(dǎo)體以及生命科學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)非常重要的作用,為科研創(chuàng)新提供了有力支撐。
為了更好地為國內(nèi)科研工作者提供專業(yè)技術(shù)支持和服務(wù),QD中國科學(xué)實驗中心現(xiàn)開放AFM/SEM/EDS多功能顯微鏡FusionScope樣機體驗活動,我們將為您提供樣品測試、樣機參觀等機會,期待與您的合作!歡迎您掃描下方二維碼聯(lián)系我們。
掃描上方二維碼,即刻體驗!
戳“閱讀原文”即刻咨詢產(chǎn)品吧!
全部評論(0條)
面內(nèi)磁存儲縱向克爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
報價:面議 已咨詢 2619次
磁電阻隨機存儲器極向克爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
報價:面議 已咨詢 2383次
DiskMapper H7
報價:面議 已咨詢 2016次
微波等離子化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)
報價:€65000 已咨詢 6639次
全自動跨膜電阻測量儀-NanoAnalytics
報價:€60000 已咨詢 5571次
超低振動低溫光學(xué)恒溫器(無液氦)
報價:面議 已咨詢 2852次
高精度光學(xué)浮區(qū)法單晶爐
報價:面議 已咨詢 4333次
高速高分辨率成像激光拉曼顯微鏡
報價:面議 已咨詢 2598次
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(www.tz998.com)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
參與評論
登錄后參與評論