Cary 7000 UMS 可使用 s 和 p 偏振光，在較寬AOI 范圍內(nèi)自動采集大涂層樣品的高質(zhì)量光譜圖。測試過程完全由軟件控制，一旦樣品安裝完畢，便可進行完全自動的數(shù)據(jù)采集。以寬的波長范圍，寬 AOI 范圍和不同偏振光對樣品進行完整表征，使我們能更深入的了解光學涂層的角度關系。此外，使用三維和二維等高線圖對數(shù)據(jù)進行可視化，可深入了解光學涂層性能。這些有價值的信息有助于涂層的設計和優(yōu)化。