前言

實(shí)驗(yàn)室一直都希望能夠通過提高樣品通量和盡力減少日常費(fèi)用來提高分析效率并降低運(yùn)行成本。農(nóng)業(yè)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室通常需要處理大量樣品，但提高分析速度通常會(huì)導(dǎo)致某種分析性能的損失，例如精密度降低。

結(jié)合了完全集成式高級(jí)閥系統(tǒng) (AVS) 的 Agilent 5110 ICP-OES [1] 無需在分析速度和精密度之間進(jìn)行折中。其設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)更快速、更經(jīng)濟(jì)而更簡(jiǎn)單的樣品分析，是高通量實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。

AVS 與 5110 的同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) 功能以及可在單次讀數(shù)中涵蓋所有波長(zhǎng)的 Vista chip II 檢測(cè)器相結(jié)合，能夠以超快速度分析樣品且不損失性能。這一高速樣品分析能力可降低每次分析成本，因?yàn)榭s短每個(gè)樣品的分析時(shí)間可減少氬氣用量。