溫度范圍：50°C - 300°C 可調(diào)

溫度精度：±1°C

內(nèi)部尺寸：根據(jù)電子設(shè)備尺寸選擇合適的型號

示波器

多用表

信號發(fā)生器

頻譜分析儀等

對電子設(shè)備進行初始性能測試，包括電氣性能（電阻、電容、電壓、電流等）、功能測試（信號傳輸、頻率響應等），并記錄詳細數(shù)據(jù)。

對樣品進行編號和標記。

將預處理后的電子設(shè)備放入高溫老化箱中，設(shè)置溫度為 85°C、125°C 等不同溫度梯度，老化時間分別為 168 小時、336 小時、504 小時等。

在老化過程中，每隔一定時間（如 24 小時、48 小時）取出部分樣品進行中間性能測試。

測量電子元件的電阻、電容值變化。

檢測電路板的信號傳輸質(zhì)量和頻率響應。

檢查集成電路的功能是否正常。

每次取出的樣品在室溫下冷卻至穩(wěn)定后，使用相應的測試儀器進行性能測試，包括但不限于：

記錄測試數(shù)據(jù)。

分析電子設(shè)備在不同溫度和老化時間下的性能變化趨勢。

計算性能參數(shù)的衰減率，評估電子設(shè)備的老化程度。

對比不同類型電子設(shè)備的老化特性。