高精度恒溫恒濕試驗箱，能夠精確控制溫度在 -40℃ 至 150℃ 范圍內(nèi)，濕度在 10% 至 98% RH 范圍內(nèi)，溫度和濕度的控制精度分別達到 ±0.5℃ 和 ±2% RH 。

先進的光學(xué)測量設(shè)備，如激光干涉儀、分光光度計等，用于測量光學(xué)儀器的各項精度指標(biāo)。

數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)，能夠?qū)崟r記錄和分析試驗過程中的溫度、濕度和光學(xué)儀器的測量數(shù)據(jù)。

將待檢測的光學(xué)儀器放置在恒溫恒濕試驗箱內(nèi)的固定支架上，確保儀器在試驗過程中穩(wěn)定且不受外界干擾。

設(shè)置恒溫恒濕試驗箱的溫度和濕度參數(shù)，按照一定的梯度進行變化，例如溫度從 20℃ 逐步升高到 60℃ ，濕度從 30% RH 逐步增加到 80% RH 。

在每個溫濕度設(shè)定點穩(wěn)定一段時間后，使用光學(xué)測量設(shè)備對光學(xué)儀器進行精度測量，包括分辨率、像差、波長準(zhǔn)確性等指標(biāo)。

記錄每個溫濕度條件下的光學(xué)儀器精度測量數(shù)據(jù)，并分析其變化趨勢。

根據(jù)實驗數(shù)據(jù)，繪制光學(xué)儀器精度指標(biāo)與溫度和濕度的關(guān)系曲線。

分析得出溫度和濕度對不同類型光學(xué)儀器精度的影響規(guī)律。

確定在何種溫濕度條件下，光學(xué)儀器能夠達到精度性能，以及在何種條件下精度會顯著下降。

基于實驗結(jié)論，提出在實際使用和檢測光學(xué)儀器時，應(yīng)控制的溫濕度范圍，以提升其精度和穩(wěn)定性。

恒溫恒濕試驗箱

激光干涉儀

分光光度計

數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)

各種類型的光學(xué)儀器樣品

固定支架

記錄表格和標(biāo)簽