在近紅外分析測試過程中樣品溫度樣品狀態(tài)環(huán)境溫 度儀器狀態(tài)等都會對近紅外分析產(chǎn)生影響[ 1] , 引起分析誤 差的產(chǎn)生, 因此從理論和實(shí)踐應(yīng)用上對近紅外誤差來源的分 析將有助于對近紅外儀器和測試環(huán)節(jié)上的改進(jìn)提供基礎(chǔ)參考 數(shù)據(jù)除上述因素以外的誤差來源可認(rèn)為來源于模型自身, 是由樣品代表性化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)值和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法等產(chǎn)生的, 但在建立穩(wěn)健分析模型( Robust calibr ation model) [2, 3] 時不 僅要充分降低模型自身的誤差來源, 還須充分考慮上述因素 產(chǎn)生的影響 目前國內(nèi)外對解決這些影響因素的方法研究有大量文獻(xiàn) 報道, 其中對溫度參數(shù)的研究為熱中之熱目前解決這些影 響因素有四種方式: 一是對光譜進(jìn)行預(yù)處理, 消除各種外界 因素對光譜的影響[1] ; 二是選取對外界影響因素不敏感的波 長建立穩(wěn)健分析模型[4] ; 三是通過建立混合校正模型( Hybr id calibratio n model) [5] , 也稱全局校正模型( Global calibr at ion model) 將意料到的外界影響因素包含到校正集中, 來實(shí) 現(xiàn)分析模型的穩(wěn)健性; Z后是通過溫度等參數(shù)補(bǔ)償?shù)姆椒▉?消除溫度等外界影響因素對光譜的影響[6, 7] 本文旨在為改進(jìn)儀器提供基礎(chǔ)理論數(shù)據(jù), 并從誤差來源 角度在理論上解析測試條件參數(shù)( 包括溫度等參數(shù)) 的影響, 闡明其重要性, 引起近紅外分析工作者的進(jìn)一步重視通過 對解決這一問題方法的討論, 闡明研究更簡單方便有效 的新措施和方法的迫切要求, 并給出了一種新思路 S400近紅外農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)分析儀 S410近紅外分光光度計(jì)