內(nèi)容概要

在本講座視頻中，濱松中國銷售工程師首先對上轉換材料&器件領域的專有名詞進行了解釋，比如什么是光致發(fā)光、什么是電致發(fā)光，并以此為基礎進一步講解了量子效率測量方法、熒光壽命測量方法、外量子效率EQE測量方法的操作要點以及注意事項，并且也一一介紹了與之相對應的產(chǎn)品，方便客戶進行選擇。講座內(nèi)容分為以下具體部分：

00:12  專業(yè)名詞解釋

06:55  量子效率測量方法介紹

11:50  量子效率測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

18:37  外量子效率EQE測量方法

19:57  影響EQE結果的因素解析

22:14  EL器件測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

26:00  熒光壽命測量方法介紹

27:24  熒光壽命測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

30:20  條紋相機原理介紹

39:24  Q&A

48:47  聯(lián)系方式

Q&A

Q：為什么濱松產(chǎn)品的能測上轉換光譜和效率？濱松的光源和探測器和其他廠商的產(chǎn)品有什么區(qū)別？

測量上轉換光譜和效率主要是要求設備能夠一次性測量得到可見至近紅外的光譜，這樣能夠保證得到的光譜滿足上轉換發(fā)光的激發(fā)和發(fā)射波段范圍。濱松的QY PLUS型號量子效率測試儀能夠測量300nm-1650nm的寬譜光譜，獨特的拼接技術可以使得近紅外探測器以及可見光探測器不會出現(xiàn)臺階效應。經(jīng)過原廠波長和強度校準以后的QY PLUS就能夠測量上轉換的光譜以及效率了。

上轉換測量需要非常高的激發(fā)能量，因此一般推薦用半導體激光器，具體波長可以視客戶需求而定。探測器方面，我們使用的是制冷型背照式CCD和InGaAs陣列，背照式CCD在紫外和可見光范圍有非常高的量子效率，InGaAs陣列在近紅外有非常高的光譜響應，并且制冷型探測器可以保證設備的高信噪比。

Q：EQE計算的原理是什么？

EQE=單位時間內(nèi)出射到空間的光子數(shù)/單位時間內(nèi)注入到有源層的電子子數(shù)=(P/(hv))/(I/e) P為輸出光功率，可以通過積分球測得或者單點探測器配合朗伯分布計算得到；I為注入的電流值，可以由源表得到。因此便能計算得到EQE。

Q：積分球測試EQE和探測器/光度計測試EQE的兩種方法是不是可以整合在一個設備？

EQE的測量方式，濱松提供C9920-12型號積分球方式測試，同樣也提供C9920-11型號光分布方式測試，兩者使用的是同一個探測器，可以整合在一套系統(tǒng)上面使用，這樣您可以同時測量積分球方式以及光分布方式。

Q：積分球測試EQE，是否還需要朗伯分布測試？

積分球測試和朗伯分布測試是兩種不同的測試方式，理論上都能得到正確的結果，有一套即可，兩套可以進行相互印證，更加推薦。

Q：法測試PLQY的時候，不同的激發(fā)波長，樣品濃度等因素都會影響結果，這些參數(shù)測試時要如何選取呢？

測量PLQY的時候，樣品濃度確實會影響PLQY的測試情況，如果有條件可以試一下不同濃度下PLQY結果的變化。我們推薦在樣品的吸收率20%-60%之間測量得到的PLQY值比較可靠。不同的激發(fā)波長，PLQY的結果不一樣是根據(jù)客戶的樣品特性而定的。

Q：請問單晶樣品可以測量嗎？尺寸和形狀有什么要求嗎？有方法進行單個納米顆粒光學性質的測量嗎？

濱松可以提供單晶樣品的測量方案，具體的需求需要和老師溝通，才能給出相關的方案。

Q：波段到1650nm量子產(chǎn)率測試系統(tǒng)，系統(tǒng)標準光源是什么，可以拓展哪些光源？

QY PLUS的系統(tǒng)標準光源是150W的長壽命氙燈，可以拓展半導體激光器光源以及高能氙燈，用于測量需要激發(fā)能量高的材料或者變功率激發(fā)的材料。

Q：條紋相機可測試的光譜范圍是多少？

不同配置的條紋相機光譜范圍不一樣，濱松提供從X射線條紋相機到1650nm近紅外的條紋相機。