本文論證了研制動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀的必要性與背景, 介紹了winner100實(shí)現(xiàn)
動(dòng)態(tài)顆粒測(cè)試的方法以及技術(shù)特征評(píng)價(jià)了動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀的實(shí)用價(jià)值與科學(xué)意
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一問題的提出
顆粒是組成材料的基本單元, 影響材料的性能的不僅是顆粒的化學(xué)組成, 顆粒的大小與顆粒的形態(tài)對(duì)材料的性能影響巨大, 因此顆粒粒度與形態(tài)的檢測(cè)越來(lái)越受到各行業(yè)的重視目前檢測(cè)顆粒大小和顆粒形態(tài)的方法有多種,激光粒度分
析儀沉降粒度儀電阻法粒度亦顆粒圖像分析技術(shù)是Z常用的技術(shù)激光粒度分析儀沉降粒度儀電阻法粒度儀, 只能檢測(cè)顆粒大小, 不能檢測(cè)顆粒形狀;顆粒圖像分析技術(shù)是一種不僅可以檢測(cè)顆粒大小也可以檢測(cè)顆粒形狀對(duì)**方法, 但是由于此種技術(shù)有幾個(gè)致命的缺點(diǎn)限制了它的進(jìn)一步發(fā)展:
1.樣品制備困難顆粒在載玻片上很難得到充分的分散, 由于顆粒粘連使得顆粒分析的準(zhǔn)確性大受影響;
顆粒處于靜態(tài), 非球形顆粒的取向會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成偏離;
由于顯微鏡的視場(chǎng)有限, 被測(cè)得顆粒數(shù)目受到很大限制, 因此取樣的代表性差, 重復(fù)性不好
由于以上問題, 顆粒測(cè)試中急需一種性能更加優(yōu)越的測(cè)試裝置, 能夠獲得顆粒的準(zhǔn)確圖像, 操作簡(jiǎn)便, 滿足顆粒形狀和顆粒粒度分析的更高要求
國(guó)際上荷蘭安米德公司德國(guó)新帕泰克公司德國(guó)萊馳公司均推出了同時(shí)測(cè)定顆粒粒與形狀的圖像分析儀國(guó)內(nèi)尚無(wú)此種產(chǎn)品, 濟(jì)南微納公司通過(guò)3年的攻關(guān)研制的winner100 顆粒圖像分析儀填補(bǔ)了此項(xiàng)空白
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