Rigaku X射線熒光分析儀 WaferX 310
日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab
德國ThetaMetrisis FR-ES精簡薄膜厚度測量特性分析系統(tǒng)
FR-Scanner自動化超高速精準薄膜厚度測量儀
德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab
智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列,是當今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀,它采用了理學(xué)的 CBO 交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺、智能的測量分析軟件 SmartLab Guidance,一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測試。
日本理學(xué)智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 技術(shù)參數(shù)
? 1、X 射線發(fā)生器功率為 3KW、新型 9KW 轉(zhuǎn)靶
? 2、測角儀為水平測角儀
? 3、測角儀最小步進為 1/10000 度,精度測角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)(理學(xué)ZG)
? 4、測角儀配程序式可變狹縫
? 5、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺(理學(xué)ZG)
? 6、CBO 交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶 Mirror)(理學(xué)ZG)
? 7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)
? 8、多用途薄膜測試組件
? 9、微區(qū)測試組件、CBO-F 微區(qū)光學(xué)組件
? 10、In-Plane 測試組件(理學(xué)獨有)
? 11、入射端 Ka1 光學(xué)組件
? 12、高速探測器 D/teX-Ultra(能量分辨率 20%以下)
? 13、二維面探 PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測器,可以接收直射 X 射線)
? 14、智能的測量分析軟件 SmartLab Guidance(ZG)
?日本理學(xué)智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 主要特點智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。
可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復(fù)合材料、有機材料、納米材料、超導(dǎo)材料
可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應(yīng)用有:
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld 定量分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. In-Plane 裝置可以同時測量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區(qū)樣品的分析
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已咨詢2336次XRD X 射線衍射儀
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已咨詢1259次SHINE系列(便攜式)
D6 PHASER是德國布魯克AXS公司推出的全球首款集反射與透射幾何、掠入射衍射等多功能于一體的臺式X射線衍射儀,具備1200W高功率及DBO技術(shù),確保高強度和高精度測量,無需外接水冷且占地面積小,
FineTec 開放式微焦點 X 射線管是一種全金屬材質(zhì)的單極 X 射線管。與常規(guī)的 X 射線管相比,樣品能夠被放置在離焦點非常近的位置。
FineTec 開放式微焦點 X 射線管是一種全金屬材質(zhì)的單極 X 射線管。與常規(guī)的 X 射線管相比,樣品能夠被放置 在離焦點很近的位置,直接獲得高的幾何放大倍數(shù),微焦點射線源的焦點尺寸更小。
XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準確的晶向定位 從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,我們的晶向定位解決方案在設(shè)計時考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應(yīng)用場景。此系列產(chǎn)品利用XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中,提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量,大大提高產(chǎn)品良率。
高階常規(guī)分析型臺式X射線衍射儀Thermo Scientific? ARL? X’TRA Companion是一款采用θ/θ 掃描和Bragg-Brentano光學(xué)幾何設(shè)計的臺式X射線衍射儀。采用先進的硬件配置和最新的科技手段來確保其準確性、精確性、安全性和易用性。
Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光學(xué)的立式X射線衍射儀。這款儀器基于“整體最優(yōu)”設(shè)計原則,憑借先進的軟、硬件配置,實現(xiàn)儀器系統(tǒng)運行的整體優(yōu)化,提升儀器分析的準確性、精確性、易用性和安全性。這款儀器能夠出色地完成各類粉末晶體的衍射分析,廣泛地應(yīng)用于材料研發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的相關(guān)領(lǐng)域。
通過X射線衍射技術(shù)和全譜擬合法,對聚合物材料樣品進行結(jié)晶度計算分析,是聚合物材料行業(yè)分析的理想工具!