NWR 193zuixianjin的準(zhǔn)分子激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)
ESI公司推出的 NWR 193 創(chuàng)造了前所未有的 LA-ICP-MS 新體驗(yàn)。提供全新的樣品導(dǎo)航功能和優(yōu)越的顯微成像系統(tǒng)。具有高性能的大體積樣品室,和自動進(jìn)樣功能。 主要用于固體樣品的原位分析,和大批量樣品分析。
工業(yè)級的完整集成系統(tǒng)
這套系統(tǒng)注重微區(qū)分析特性,適用于缺陷分析和包裹體分析等。具有以下特點(diǎn):
無可比擬的顯示畫面和導(dǎo)航系統(tǒng)
的樣品處理能力 (快速響應(yīng)和沖洗)
jing準(zhǔn)的分析結(jié)果
光學(xué)能量衰減器,精確控制全程能量輸出
第三代激光剝蝕系統(tǒng)
NWR 193 是第三代高性能193nm激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng),為客戶提供的分析進(jìn)樣工具,具有自動進(jìn)樣,樣品導(dǎo)航等獨(dú)特功能,針對于原位分析和大批量分析應(yīng)用。 NWR 193系統(tǒng)尤其注重“微區(qū)”特性的設(shè)計(jì),光斑尺寸最小可達(dá)1μm,特別適用于瑕疵、包裹體的分析。 NWR 193 高度整合了緊湊型準(zhǔn)分子激光器,簡單易用,提高了取樣分析的效率。
NWR 193 的優(yōu)勢
對193nm激光更高的吸收率極大改進(jìn)了所有材料的剝蝕效果,包括易碎和容易開裂的礦物。
光束通過具有ZG的勻化器完全勻化,結(jié)合特有的光束傳導(dǎo)系統(tǒng),獲得極為平坦的剝蝕坑。所有剝蝕尺寸下,具有恒定能量密度。
精確的剝蝕深度和小到1μm的剝蝕坑,使其成為非常理想的包裹體和薄膜類樣品的分析工具。
產(chǎn)生更加細(xì)小的剝蝕顆粒,提高氣溶膠傳輸效率,并zui*程度減小顆粒的沉積。
全自動激光剝蝕軟件,包括用于樣品導(dǎo)航的廣角視野觸摸屏幕。
可選附件:
150mm 超大LFC樣品室
多種可供選擇的樣品室
多路質(zhì)量流量控制器
用戶定制的樣品承載件
性能參數(shù):
| 性能規(guī)格 | |
| 激光器 |
脈寬短,體積緊湊的準(zhǔn)分子激光器,輸出 波長 193nm, 脈沖寬度< 4ns |
| 重復(fù)頻率 | 1-100 Hz, 單發(fā), 連發(fā)和連續(xù)模式 |
| 輻照度 @ 樣品表面 | >3 GW/cm2 ( aperture imaged 模式) |
| 能量密度 @ 樣品表面 | >12 J/cm2 |
| 光斑尺寸 | 13 個光斑尺寸, 1 mm 到 150 mm可調(diào) |
| XY 移動載物臺 | 100mm x100mm 行程 |
| 移動臺精度 | 1mm |
| 通用指標(biāo) | |
| 安全等級 | 完全保護(hù), Class-1 系統(tǒng) |
| 保修期 | 12個月 |
| 觸發(fā) | ICP-MS和LA系統(tǒng)雙向觸發(fā)控制 |
| 光學(xué)觀察系統(tǒng) | 高分辨率大視野觸摸式導(dǎo)航屏幕 |
| 質(zhì)量流量控制器 | 集成式 |
| 共焦彩色顯微鏡 | 2mm 光學(xué)分辨率,彩色數(shù)字CCD |
| 光學(xué)放大倍數(shù) |
5.6X 至60X (攝像機(jī)前的放大倍數(shù)) 主屏幕視野范圍: 低倍率: 0.70 mm x 0.56mm 高倍率: 0.15 mm x 0.12 mm 導(dǎo)航屏幕視野范圍: 25 mm x 19 mm 樣品室導(dǎo)航范圍: 100 mm x 100 mm |
| 偏振器 | 旋轉(zhuǎn)交叉偏振器,完全軟件控制 |
| 實(shí)驗(yàn)室要求 | |
| 溫度 | (21℃ + 3℃) |
| 相對濕度 | 20% - 65% |
| 激光器等級 | Class 4 |
| 電源要求 |
100-110V (AC), 3A, 50/60 Hz 220-240V (AC), 3A, 50/60 Hz |
| 系統(tǒng)尺寸 | |
| 高 | 58” (148 cm) |
| 寬 | 32” (81 cm) |
| 長 | 50” (130 cm) |
| 重量 | 200 lb (~91 Kg) |
報價:¥2000000
已咨詢5175次
報價:面議
已咨詢501次J200激光剝蝕激光誘導(dǎo)
報價:¥100
已咨詢1594次J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)
報價:面議
已咨詢528次J200激光剝蝕激光誘導(dǎo)
報價:¥100
已咨詢1087次RESOChron雙年代測試系統(tǒng)
報價:面議
已咨詢451次RESOChron雙年代測試系統(tǒng)
報價:¥110
已咨詢1364次J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)
報價:面議
已咨詢111次德 xiton 準(zhǔn)分子激光器
美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)激光進(jìn)樣系統(tǒng)與等離子體質(zhì)譜連用,組成LA-ICP-MS系統(tǒng),對樣品的元素組成、元素分布進(jìn)行檢測??膳c市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用。
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(LA)術(shù)可靠性提升到一個新高度,可應(yīng)用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術(shù)研究等地質(zhì)研究領(lǐng)域,并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)一致的激光剝蝕,這一創(chuàng)新的傳感器特性是由應(yīng)用光譜公司科學(xué)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的一項(xiàng)技術(shù),具備三種照明模式來提高圖像質(zhì)量和對比度:擴(kuò)散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強(qiáng)度和顏色可控。
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破,為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素,需要高精度的、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),ICP源的顆粒能完全被消解