瑞士Alemnis公司位于風(fēng)景秀麗的瑞士圖恩,它是瑞士聯(lián)邦材料科學(xué)與技術(shù)研究所(EMPA)的獨(dú)立子公司,于2008年成立。依托于EMPA的強(qiáng)大研發(fā)能力和技術(shù)支撐,Alemnis公司專注于原位納米壓痕儀的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀是一款結(jié)構(gòu)緊湊,功能多樣的儀器,可與眾多測(cè)試和成像設(shè)備集成,并可用于多種不同的應(yīng)用場(chǎng)景。
瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀適用于掃描電子顯微鏡(SEM)的原位測(cè)量,也可用于同步輻射裝置和光學(xué)顯微鏡的常規(guī)環(huán)境中使用。
這款原位納米壓痕儀是市場(chǎng)上一款能夠提供真正形變控制模式的儀器,可為許多材料測(cè)試和各種應(yīng)用領(lǐng)域提供無與倫比的靈活性、準(zhǔn)確性和真正的原位納米機(jī)械性能測(cè)試。
Alemnis的納米壓痕儀可經(jīng)過改裝,升級(jí)模塊后,可在高剪切應(yīng)變下進(jìn)行動(dòng)態(tài)機(jī)械性能測(cè)試,并可在超高溫條件下進(jìn)行測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格:
? Primary indentation mode: True displacement
? Customizable software
? Standalone instrument, operating in SEM or in ambient
? Maximum indentation load: 0.5 N (standard) and 2.5 N (optional)
? Indentation load RMS noise: 4 μN(yùn)* (0.5 N range) and 20 μN(yùn)* (2.5 N range)
? Maximum indentation depth: 40 μm
? Indentation depth RMS noise: 1 nm*
? XY closed loop sample micro-positioning system with 26 mm range
? Z closed loop indenter tip micro-positioning system with 22 mm range
? XYZ micro-positioning system resolution: 1.2 nm
? Maximum recommended test area: 10 x 10 mm
? Heating/Coo領(lǐng) Options: -120°C up to 1000°C
? Strain Rate Options: controlled strain rate up to 10’000 s-1 **
? Weight: 500 g
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已咨詢799次納米壓痕儀
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已咨詢5237次納米壓痕儀、劃痕儀
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已咨詢189次In-SEM微納米力學(xué)
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已咨詢5228次納米壓痕儀、劃痕儀
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、
KLA公司全系列的力學(xué)測(cè)試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器, iNano臺(tái)式納米壓痕儀。對(duì)納米壓痕物理模型和優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解,以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì)。
透射電鏡多尺度、多視角(明、暗場(chǎng)像,電子衍射, 化學(xué)成分)的實(shí)驗(yàn)分析能力,基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動(dòng)態(tài)力
FT-NMT04納米機(jī)械測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭,能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。
InSEM HT(高溫)通過在真空環(huán)境中單加熱尖端和樣品來測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。