對應(yīng)FTIR主機(jī)

FT/IR-4000系列、6000系列

測光方式

透過?反射測量

觀察方式

直接測量方式

檢測器

標(biāo)準(zhǔn)：中波段 MCT檢測器
選項：窄波段MCT檢測器、寬波段MCT檢測器、DLATGS檢測器
InSb出器、InGaAs檢測器、陣列中波段檢測器MCT
陣列InSb檢測器、陣列InGaAs檢測器

檢測器切換

選項：配有2個檢測器（軟件切換）、第2個檢測器裝卸配置

SN比

1500:1(陣列MCT檢測器)、8000:1(單元件MCT檢測器)

像素分解
(陣列MCT)

6.25μm□(32倍)、12.5μm□(16倍)、20μm□(10倍：可選)

測量時間
(陣列MCT)

1.6秒
(FT/IR-6000、測量區(qū)域100×100μm、像素分解6.25μm□、分解400px-1、1回計算)

觀測

智能顯示器（可同時測量和觀察樣品）
CMOS照相機(jī)：帶3倍光學(xué)鏡頭
選項：彩色液晶顯示器、二眼筒（內(nèi)置ATOS）

觀察照明

帶自動照亮功能

聚焦

標(biāo)準(zhǔn)

物

標(biāo)準(zhǔn)：16倍、32倍可選擇、選項：10倍

物鏡鏡頭

選項：10倍、20倍

物切換裝置

4孔自動旋轉(zhuǎn)器、帶物自識別裝置

集光

16倍、32倍、10倍(選項)

集光鏡自動調(diào)節(jié)

標(biāo)準(zhǔn)功能

光圈

自2獨立可變、回轉(zhuǎn)(單元件檢測器使用時)

樣品臺

標(biāo)準(zhǔn)：自動XYZ樣品臺、選項：控制桿

真空

選項