Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實(shí)現(xiàn)手動操作。測量時(shí)將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)在高度不超過9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測量區(qū)域。自動多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進(jìn)行測量。伺服電機(jī)驅(qū)動的可編程平臺可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的可編程樣品定位。懸臂門設(shè)計(jì)方便操作人員進(jìn)行樣品放置

X射線測厚儀 HS01-DY20型

可用于鋼板、橡膠板、止水帶等的在線精密測量和控制

Sciteq多層管材X射線測厚儀

韓國微先鋒X射線測厚儀/熒光測厚儀XRF-2000

全自動樣品臺； 多種尺寸的準(zhǔn)直器可選，適合各種大小產(chǎn)品的鍍層測試； 鐳射對焦系統(tǒng)，避免人為肉眼對焦產(chǎn)生測量誤差。

浪聲 X射線熒光測厚儀 鍍層分析儀 INSIGHT PCB、晶圓版

曉INSIGHT旨在為鍍層分析應(yīng)用提供精準(zhǔn)高效的分析方法。曉INSIGHT易于操作，配置靈活，可輕松超薄鍍層的挑戰(zhàn)。

日立 FT230型X射線熒光測厚儀（正比例計(jì)數(shù)器）

日立 FT230型X射線熒光測厚儀（正比例計(jì)數(shù)器）包括用于常規(guī)測量普通電鍍的正比計(jì)數(shù)探測器，并集成先進(jìn)且易于使用的功能，旨在增強(qiáng)大批量測試需求。

天瑞儀器X熒光測厚儀Thick800A