Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀
Filmetrics F20 經(jīng)濟(jì)實(shí)用型單點(diǎn)膜厚儀
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Filmetrics F20 經(jīng)濟(jì)實(shí)用型單點(diǎn)膜厚儀
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品介紹：
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)ilmetrics F40 薄膜厚度測量儀就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢：
結(jié)合顯微鏡的膜厚測量系統(tǒng)，光斑小至一微米的測量精度；
匹配市面多數(shù)的顯微鏡連接使用；
清晰且直觀地觀察樣品并確認(rèn)測量位置；
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀測量原理：
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：
薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等
薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣
薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量
薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品常見工業(yè)應(yīng)用：
半導(dǎo)體制造 | 生物醫(yī)學(xué)元件 | MEMS微機(jī)電系統(tǒng) | LCD液晶顯示器 |
光刻膠 | 聚合物 | 光刻膠 | 盒厚 |
氧化物/氮化物 | 聚對二甲苯 | 硅膜 | 聚酰亞胺 |
硅 | 生物膜/氣泡墻厚度 | 氮化鋁 | ITO導(dǎo)電透明膜 |
半導(dǎo)體膜層 | 植入藥物涂層 | 氧化鋅薄膜濾鏡 |
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品參數(shù)：
波長范圍： | 190nm-1690nm | 光源： | 內(nèi)部顯微鏡光源 |
測量nk值最小厚度 | 50nm | 測量精度： | 0.02nm |
穩(wěn)定性： | 0.05nm | 準(zhǔn)確度*：取較大者 | 50nm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀測量圖：
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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便?，F(xiàn)在，不論?產(chǎn)線操作?員還是研發(fā)技術(shù)?員都能在?秒鐘內(nèi)檢測和記錄涂層厚度情況。
Filmetrics F10-HC膜厚儀專為減反層薄膜的精確測量而設(shè)計，采用優(yōu)化的光譜分析技術(shù)，可快速精準(zhǔn)測量各類減反射涂層的厚度與光學(xué)性能，為光學(xué)元件、顯示面板及太陽能行業(yè)提供專業(yè)的質(zhì)量控制方案。
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。
Filmetrics F40 顯微集成式微小區(qū)域薄膜測厚系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 顯微集成式微小區(qū)域薄膜測厚系統(tǒng)。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。
MFPM001測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。
在線鍍鋅層測厚儀，在線鋼絲鍍鋅測厚儀，在線硅鋼干膜測厚儀
激光測量系統(tǒng)，具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能 測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、PVC、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜,測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。 對于被測材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
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