用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀
用于單晶(晶錠和晶圓)的材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺式XRD設(shè)備。
Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。
SDCOM的特點(diǎn)
超快速測量:樣品旋轉(zhuǎn)一次(即10秒內(nèi))即可捕獲所有所需的晶體取向參數(shù)
多種樣品尺寸:可測量直徑從1mm到200mm的樣品
可對任何單晶材料進(jìn)行全自動分析和取向測定
典型標(biāo)準(zhǔn)偏差 (Si 100):傾角幅度<0.01° ,傾角方向<0.03°
正常運(yùn)行時間:>99%
Theta 掃描功能:用于復(fù)雜的研究和材料表征
轉(zhuǎn)移技術(shù):實(shí)現(xiàn)一束切割光束中*多可處理6個定向好的晶體
可與SECS/GEM等MES集成

上傳人:馬爾文帕納科
大?。? B
2940
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FineTec 開放式微焦點(diǎn) X 射線管是一種全金屬材質(zhì)的單極 X 射線管。與常規(guī)的 X 射線管相比,樣品能夠被放置 在離焦點(diǎn)很近的位置,直接獲得高的幾何放大倍數(shù),微焦點(diǎn)射線源的焦點(diǎn)尺寸更小。
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