電橋電容率介電常數(shù)測試儀自激電源 AC 0V∽50V/15A 50HZ、60HZ單頻

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ

自動雙變頻

分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF

精    度 △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)

  △C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)

測量范圍 tgδ 無限制

  C x 15pF ＜ Cx ＜ 300nF

   10KV Cx ＜ 40  nF

   5KV Cx ＜ 150 nF

   1KV Cx ＜ 300 nF

  CVT測試 Cx ＜ 300 nF

外型尺寸（主機）(mm) 350（L）×270（W）×270（H）

 外型尺寸(附件箱)(mm) 350（L）×270（W）×160（H）

存儲器大小 200 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲

重量（主機） 22.75Kg

 重量（附件箱） 5.25Kg

精    度 2%

大電流       200mA

容    量 2000VA

自激電源 AC 0V∽50V/15A 50HZ、60HZ單頻

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ

自動雙變頻

9.分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF

7 精    度 △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)

  △C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)

8 測量范圍 tgδ 無限制

  C x 15pF ＜ Cx ＜ 300nF

   10KV Cx ＜ 40  nF

   5KV Cx ＜ 150 nF

   1KV Cx ＜ 300 nF

  CVT測試 Cx ＜ 300 nF

10 存儲器大小 200 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲

11 重量（主機） 22.75Kg

 重量（附件箱） 5.25Kg

3-2計算公式

Cx=R4× Cn / R3    R4[Ω]  R3[Ω]  Cn[pF]  Cx[pF]

tgδ=ω·R4·C4     R4[Ω]  C4[F]

當(dāng)R4=10K/π

tgδ=C4      

當(dāng)R4=1K/π

tgδ=0.1C4   

我們采取相對固定R4電阻，分別調(diào)節(jié)R3和C4使橋跟平衡，從而測得試品的電容值Cx和介質(zhì)損耗tg。本電橋為了直讀出損耗值，取電阻R4的阻值為角頻率（f=50Hz）若干倍。

電橋電容率介電常數(shù)測試儀

2.2.2電流比較儀型高壓電容電橋

電橋的電流比例臂由電流比較儀的比例繞組構(gòu)成。流過參考電流的比例臂上附有移

相電路，采用磁勢平衡指示。按移相方式可以把這類電橋分為有源與無源兩種。屬于無

源的一種用阻容電路直接移相;屬于有源的一種用電子放大元件配合阻容元件正交移

相。用磁勢合成方法實現(xiàn)所需相移。

2.2.3電子式高壓電容電橋

使用電子電路(包括模擬電路和數(shù)字電路)測量幅值比和相位差的高壓電容電橋。

2.2.4數(shù)字式高壓電容電橋

采用數(shù)字信號處理方法測量幅值比和相位差的高壓電容電橋。

2.3高壓介損儀

本規(guī)程涉及的高壓介損儀是一種由高壓電容電橋、高壓試驗電源和高壓標準電容器

組成的測量裝置。高壓試驗電源通常不高于10kV，頻率40Hz-70Hz。

3計量性能要求

3.1高壓電容電橋的準確度等級

3.1.1高壓電容電橋的準確度按電容比率和介質(zhì)損耗因數(shù)分別定級如下:

電容比率測量準確度級別為0.001，0.002，0.005，0.01，0.02，0.05，0.1，0.2.JJG 563--2004

0.5，1，2，5.

介質(zhì)損耗因數(shù)差值測量準確度級別為0.5，1，2，5，10。

3.1.2高壓電容電橋通過量程擴展器增加的附加量程，其準確度應(yīng)當(dāng)用準確度級別或

用公式、圖表表示。

3.2高壓介損儀電橋部分的準確度等級

高壓介損儀電橋部分的準確度參照高壓電容電橋定級。

3.3高壓電容電橋的基本誤差

西林型高壓電容電橋和自動變換量程的電子式或數(shù)字式電橋的基本誤差為:

△x- =(1+0.003x)

△D= ±(D+0.01)

電流比較儀型高壓電容電橋和手動變換量程的電子式或數(shù)字式電橋的基本誤差為:

()

△D= ±j

B

(D+0.01)

各符號的意義為:

△X一電容比率示值誤差限值;

△D一介質(zhì)損耗因數(shù)示值誤差限值;

A一用百分數(shù)表示的電容比率測量準確度級別;

B一用百分數(shù)表示的介質(zhì)損耗因數(shù)差值測量準確度級別;

X一一電容比率測量示值;

D一-介質(zhì)損耗因數(shù)測量示值;

R,一電容比率量程定標值。它等于該量程大比率值按一位有效數(shù)字化整的數(shù)值。

3.4穩(wěn)定性

在遵守制造廠規(guī)定的使用、運輸及貯存條件下，2年內(nèi)電橋應(yīng)符合原準確度級別基

本誤差的規(guī)定。在遵守制造廠規(guī)定的使用條件下，環(huán)境溫度每變化10℃所引起的電橋

誤差值的變化，應(yīng)不大于電橋基本誤差限值的1/3。

4通用技術(shù)要求

4.1屏蔽支路調(diào)節(jié)器與工頻檢流計

與高壓電容電橋配套使用的屏蔽支路調(diào)節(jié)器，無論是手動調(diào)節(jié)或自動調(diào)節(jié)，在調(diào)整

到電橋規(guī)定的平衡狀態(tài)時，所引起的測量值的變化量應(yīng)小于電橋允許誤差的1/10。

與電橋配套使用的工頻檢流計，其高次諧波比和交叉調(diào)制系數(shù)兩項指標，對介

質(zhì)損耗因數(shù)差值測量準確度為0.5級的電橋，應(yīng)不小于50dB，對1級應(yīng)不小于40dB，

其他情況應(yīng)不小于30dB。工頻檢流計的阻尼時間應(yīng)小于4s。工頻檢流計的靈敏度應(yīng)滿

足如下要求:當(dāng)參考電流處于電橋規(guī)定的低工作范圍時，若電橋測量臂偏調(diào)量相當(dāng)于

允許誤差的1/10，則檢流計的偏轉(zhuǎn)不小于1mm。

JJG 563--2004

屏蔽支路調(diào)節(jié)器與工頻檢流計在通電預(yù)熱3min后，其零位漂移對測量結(jié)果的影響

應(yīng)小于允許誤差的1/10。

4.2外觀及標記

高壓電容電橋及配套器件外觀應(yīng)完好，各轉(zhuǎn)換開關(guān)和接線端鈕的標記應(yīng)齊全清晰，

接插件接觸良好，開關(guān)轉(zhuǎn)動靈活，定位準確。高壓電橋上應(yīng)有型號、名稱、原理接線圖

以及使用頻率、量程、準確度級別、參考電流工作范圍和出廠編號等標記。

4.3絕緣

配有交流電源插座的高壓電容電橋，插座與電橋外殼可觸及的金屬部件之間的絕緣

電阻應(yīng)不小于10MΩ，并能耐受50Hz，1.5kV正弦電壓1min試驗。

若電橋具有與高壓直接連結(jié)的端鈕，則該端鈕與外殼可觸及的金屬部件之間的絕緣

電阻應(yīng)大于100MΩ，并能耐受50Hz，15kV正弦電壓1min試驗。

5計量器具控制

計量器具控制包括檢定、后續(xù)檢定和使用中的檢驗。

5.1檢定條件

5.1.1環(huán)境與電源條件

檢定場所的布置應(yīng)使被檢電橋與高壓引線的距離大于√Um;與電流母線的距離大

于VIm。其中:U的單位為kV;1的單位為A。

因外界電磁場影響而引起的誤差，不應(yīng)超過電橋允許誤差的1/10?；蛘弋?dāng)改變高壓

試驗電源的極性時，前后兩次示值之差，不超過電橋在這一點允許誤差的1/5。

檢定電橋時，應(yīng)滿足表1規(guī)定的參考條件。檢定前，被檢電橋與檢定裝置在滿足表

1規(guī)定的環(huán)境條件下存放時間應(yīng)超過24h。

表1檢定參考條件

被檢電橋介質(zhì)提耗

環(huán)境簡度

相對濕度

電源頻率

電源電壓波形畸變

因數(shù)準確度級別

/(%)

H

系數(shù)/{%)

0.5.1

20年5

35-65

50±0.2

≤1

2.5，10:

20±10

30~75

50±0.5

5.1.2檢定用設(shè)備

5.1.2.1高壓電容電橋的電容比率基本誤差使用電容量具(或交流電阻量具)整體檢

定。高壓電容電橋的介質(zhì)損耗因數(shù)基本誤差使用工頻損耗因數(shù)量具整體檢定。

電容量具提供的電容比率不確定度(p=95%)和工頻損耗因數(shù)量具提供的損耗因

數(shù)不確定度(p=95%)不得大于被檢電橋允許誤差的1/3。

5.1.2.2絕緣電阻表的測量誤差應(yīng)不大于10%，輸出電壓為1000V或1500V。

5.1.2.3工頻耐壓試驗裝置的高壓輸出容量應(yīng)不小于500VA，波形失真不大于5%。試

驗電壓的測量誤差不大于3%。

5.2檢定項目JJG 563--2004

高壓電容電橋的檢定項目按表2規(guī)定。

表2高壓電容電橋檢定項目

檢定類別

檢定

檢定項目

后續(xù)檢定