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產(chǎn)品介紹:
先進(jìn)的Performech® II控制模塊和電子設(shè)計(jì)
1.高性能的高速閉環(huán)控制
2.業(yè)界超過(guò)的噪音控制
3.集成的帶輸入/輸出信號(hào)的多參數(shù)控制
4.五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測(cè)試速度
多維度測(cè)量耦合
1.充分優(yōu)化各個(gè)傳感器的特質(zhì)適用不同測(cè)量需要,通過(guò)多維傳感器的選擇實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量間的無(wú)縫耦合
2.多種有效的測(cè)試模塊配置,包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動(dòng)態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等
豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件
1.TriboScan(TM) 10提供了顛覆性的控制功能,包括XPM超快納米壓痕,SPM+原位掃描探針顯微鏡成像,動(dòng)態(tài)表面搜索,全自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測(cè)試
2.Tribo iQ (TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理、分析和畫(huà)圖功能,并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動(dòng)生成的定制測(cè)試報(bào)告功能
極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)
1.多級(jí)別的防護(hù)罩提供了優(yōu)異的環(huán)境隔絕能力,并具有用于將來(lái)的升級(jí)可擴(kuò)展接口
2.樣品臺(tái)提供了機(jī)械、磁性和真空固定方式,適用于各種樣品


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已咨詢(xún)638次納米壓痕儀
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已咨詢(xún)1708次納米壓痕儀
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已咨詢(xún)657次激光設(shè)備
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已咨詢(xún)1642次德國(guó)Bruker 光譜儀/納米壓痕儀/光學(xué)輪廓儀
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已咨詢(xún)601次納米壓痕儀
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已咨詢(xún)5616次納米壓痕儀、劃痕儀
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已咨詢(xún)1178次納米壓痕儀
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已咨詢(xún)157次納米壓痕儀
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶(hù)友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試??苫Q的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶(hù)友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、
KLA公司全系列的力學(xué)測(cè)試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器, iNano臺(tái)式納米壓痕儀。對(duì)納米壓痕物理模型和優(yōu)線(xiàn)性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解,以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì)。
透射電鏡多尺度、多視角(明、暗場(chǎng)像,電子衍射, 化學(xué)成分)的實(shí)驗(yàn)分析能力,基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
為了滿(mǎn)足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開(kāi)發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動(dòng)態(tài)力
FT-NMT04納米機(jī)械測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭,能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。
InSEM HT(高溫)通過(guò)在真空環(huán)境中單加熱尖端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。