詳細(xì)介紹

S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
       數(shù)十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。

優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。

ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析
圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學(xué)樣品，直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層
                            定制的反射介質(zhì)

行業(yè)應(yīng)用：

·  藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
·  食品
糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品標(biāo)準(zhǔn)：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
·  環(huán)境監(jiān)測
環(huán)境監(jiān)測：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。