BeNano Zeta 電位分析儀
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano 180 納米粒度儀
產(chǎn)品介紹
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動造成的散射光的多普勒頻移,進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。

基本性能指標(biāo)
1、Zate電位測試
| Zeta范圍 | 無實(shí)際限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta測試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm * |
2、趨勢測試
| 溫度趨勢 | Zeta電位隨溫度變化趨勢 |
| 時間趨勢 | Zeta電位隨時間的變化趨勢 |
| pH值趨勢 | Zeta電位隨pH值的變化趨勢 * |
3、系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/td> |
| 激光器 | 高性能固體激光器,波長671nm(不同波長激光器可選) |
| 相關(guān)器 | 快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 |
| 檢測器 | APD |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% -100%,自動或手動控制 |
| * 依賴于樣品和選件 | |
檢測參數(shù)
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
●電導(dǎo)率
檢測技術(shù)
●電泳光散射
選配件
● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險。

● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

報價:面議
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