Photonic Lattice 應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備 —— 引領(lǐng)透明材料應(yīng)力檢測(cè)新標(biāo)準(zhǔn)

在光學(xué)材料與精密制造領(lǐng)域，對(duì)透明部件內(nèi)部應(yīng)力狀態(tài)的高精度、全面可視化測(cè)量是保證產(chǎn)品質(zhì)量和穩(wěn)定性的重要環(huán)節(jié)。Photonic Lattice, Inc.基于其自主研發(fā)的光子晶體偏振成像技術(shù)和高分辨率2D偏振成像傳感器，推出了一系列應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備，為客戶提供快速、精準(zhǔn)、可靠的應(yīng)力評(píng)估解決方案。

?? 核心亮點(diǎn)

?? 高速全二維應(yīng)力測(cè)量

Photonic Lattice的PA/WPA系列設(shè)備通過先進(jìn)的偏振成像傳感技術(shù)，一次性獲取透明樣品的二維雙折射/相位差分布圖像，避免傳統(tǒng)點(diǎn)測(cè)量的局限，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)快速應(yīng)力檢測(cè)。

• 實(shí)時(shí)獲取二維數(shù)據(jù)，測(cè)量結(jié)果在毫米到幾十厘米尺度內(nèi)全面覆蓋
• PA系列適用于低應(yīng)力雙折射（0–130 nm）檢測(cè)
• WPA系列擴(kuò)展至高應(yīng)力范圍（高達(dá)約3500 nm）測(cè)量

?? 量化與可視化分析

設(shè)備配套的PA/WPA-View軟件提供一套功能強(qiáng)大的分析工具，支持：

• 相位差/雙折射量與主應(yīng)力的轉(zhuǎn)換顯示
• 多樣可視化統(tǒng)計(jì)圖表、軸向分布圖
• 多數(shù)據(jù)比對(duì)與趨勢(shì)分析，便于質(zhì)量監(jiān)控
• 支持導(dǎo)出CSV等標(biāo)準(zhǔn)格式，便于后續(xù)數(shù)據(jù)處理或報(bào)告生成

??? 多場(chǎng)景覆蓋的測(cè)量能力

Photonic Lattice的設(shè)備憑借模塊化設(shè)計(jì)和豐富的可選配置，可靈活應(yīng)對(duì)不同的測(cè)量需求：

? 從微觀到宏觀 — 可選顯微鏡視場(chǎng)或大視野視場(chǎng)
? 可見光和近紅外測(cè)量版本 — 可用于透明樹脂、特殊材料（如LiDAR組件、紅外光學(xué)材料）
? 產(chǎn)線集成和自動(dòng)判定 — 支持實(shí)時(shí)OK/NG判定與自動(dòng)控制集成

?? 典型應(yīng)用場(chǎng)景

Photonic Lattice的應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備已廣泛用于：

• 光學(xué)鏡片、玻璃部件、顯示面板基板的內(nèi)部應(yīng)力評(píng)價(jià)
• 透明樹脂件（如注塑透光部件）應(yīng)力分布檢測(cè)
• VR/AR光學(xué)元件質(zhì)量控制
• 晶圓、硅晶體等材料的微觀應(yīng)力缺陷分析

?? 提升品質(zhì)，驅(qū)動(dòng)創(chuàng)新

借助Photonic Lattice領(lǐng)先的應(yīng)力雙折射測(cè)量技術(shù)，客戶能夠：

• 在設(shè)計(jì)和工藝階段及早發(fā)現(xiàn)應(yīng)力異常。
• 優(yōu)化制造工藝，提高良品率。
• 實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品性能與可靠性提升。
• 在高精密光學(xué)和高端制造領(lǐng)域建立穩(wěn)定的質(zhì)量控制體系。