儀器網(wǎng)>知識百科>掃描電鏡更新時間：2026-02-06 22:45:29

掃描電鏡百科

導(dǎo)讀: 掃描電鏡全稱掃描電子顯微鏡（SEM），是近十余年才發(fā)展起來的。他的電子束路徑附好與透射電鏡的相側(cè)逆。掃描電鏡在幾個方面具有明顯的優(yōu)越性，它的成像有較大的景深，不需作樣品表面的復(fù)型，可以觀察游離細(xì)胞、血細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)和染色體的次級羅紋，其分辨率已經(jīng)達(dá)到2nm左右。掃描電鏡利用電子束在晶體中的通道效應(yīng)可作選區(qū)電子衍射，進(jìn)行微區(qū)空間結(jié)構(gòu)的分析，選區(qū)范圍可小到10nm，若帶上X光微區(qū)分析儀后，可利用樣品在電子束作用下發(fā)出的特征X線來進(jìn)行表面微區(qū)成份分析。

目錄: 1原理知識 2結(jié)構(gòu)參數(shù) 3功能作用 4操作使用 5教程說明 6維修保養(yǎng) 7注意事項

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1原理知識

百科

掃描電鏡倍鏡原理: 本文將詳細(xì)介紹掃描電鏡的倍鏡原理，解析其工作機(jī)理和成像過程，以幫助讀者理解如何通過掃描電鏡獲取細(xì)致的樣本表面信息及其應(yīng)用前景。

2結(jié)構(gòu)參數(shù)

百科

場發(fā)射掃描電鏡的構(gòu)造: 它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)等多個領(lǐng)域，用于研究樣品的表面形貌、元素分布和微觀結(jié)構(gòu)。在本文中，我們將深入探討場發(fā)射掃描電鏡的構(gòu)造原理，分析其核心組件的設(shè)計及其對性能的影響，幫助讀者更好地理解這一精密儀器的工作機(jī)制及應(yīng)用優(yōu)勢。

3功能作用

百科

掃描電鏡在油氣勘探的應(yīng)用: 油氣勘探中，巖石的微觀結(jié)構(gòu)和礦物成分直接影響資源的評估和開采效率。通過掃描電鏡，勘探人員可以在納米級別上觀察巖石樣本，提供比傳統(tǒng)方法更為精確的微觀信息，從而推動油氣勘探技術(shù)的不斷進(jìn)步。本篇文章將探討掃描電鏡在油氣勘探中的具體應(yīng)用，及其如何提升資源勘探的效率和準(zhǔn)確性。

4操作使用

百科

掃描電鏡標(biāo)尺校正: 為了確保其獲得的圖像和數(shù)據(jù)具有高準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，掃描電鏡的標(biāo)尺校正至關(guān)重要。標(biāo)尺校正直接影響到電鏡圖像的尺寸精度，進(jìn)而決定了分析結(jié)果的可靠性。在這篇文章中，我們將探討掃描電鏡標(biāo)尺校正的原理、方法及其在不同應(yīng)用中的重要性，旨在為科研人員和工程師提供實用的參考和技術(shù)支持。

5教程說明

百科

掃描電鏡調(diào)焦的方法: 其分辨率的提升和樣品觀察的精確性，離不開有效的調(diào)焦技術(shù)。本文將深入探討掃描電鏡調(diào)焦的多種方法，分析每種方法的優(yōu)缺點(diǎn)，并為相關(guān)研究人員提供實用的調(diào)焦技巧。掌握這些調(diào)焦技術(shù)，不僅有助于提高圖像質(zhì)量，還有助于深入理解樣品的微觀結(jié)構(gòu)，為后續(xù)實驗分析提供堅實的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。

6維修保養(yǎng)

百科

掃描電鏡樣品室故障: 其樣品室是整個設(shè)備的核心部分之一，負(fù)責(zé)為樣品提供穩(wěn)定的環(huán)境，確保掃描電鏡的正常工作。隨著設(shè)備使用時間的增加，樣品室可能會出現(xiàn)各種故障，影響設(shè)備的整體性能與測量結(jié)果。本文將詳細(xì)探討掃描電鏡樣品室常見的故障類型及其解決方案，幫助工程師與技術(shù)人員更有效地進(jìn)行故障排查與維修，確保掃描電鏡的穩(wěn)定運(yùn)行與精確分析。

7注意事項

百科

掃描電鏡制樣注意事項: 為了確保獲得高質(zhì)量的掃描電鏡圖像，樣品制備是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。正確的制樣不僅能夠反映出樣品的真實結(jié)構(gòu)，還能減少因樣品處理不當(dāng)導(dǎo)致的成像誤差。因此，本文將深入探討在掃描電鏡制樣過程中需要注意的幾個關(guān)鍵事項，以幫助研究人員和技術(shù)人員更好地掌握制樣技巧，獲得佳的觀察效果。

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相關(guān)問答: 掃描電鏡，透射電鏡場發(fā)射掃描電鏡和環(huán)境掃描電鏡的區(qū)別。掃描電鏡的分類？關(guān)于掃描電鏡培訓(xùn) 掃描電鏡圖片分析掃描電鏡的主要用途

最新產(chǎn)品: 二手日立S-4800 冷場發(fā)射電鏡
S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡（簡稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場，物鏡為半浸沒式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠贰-4800的主要附件為X射線能譜儀。; 二手日立 SEM+EDX 冷場電鏡
二手日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探測器設(shè)計上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器。; 二手日立 SU-8010 冷場發(fā)射掃描電鏡
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機(jī)型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能，還對用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。; 二手日立 SU-8010 冷場發(fā)射掃描電鏡
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機(jī)型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能，還對用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。; 二手日本電子 IT-300 掃描電鏡
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，簡單化，從此操作電鏡非常只能化。; 二手日本電子 IT-200掃描電鏡
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統(tǒng)，在進(jìn)行獲得樣品表面像的時候，還可以對樣品的某個定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例，進(jìn)行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。; 德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，ding級X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。; 德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，ding級X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。