本文由 廣州高測(cè)儀器有限公司 整理匯編

2015-07-20 00:00 2040閱讀次數(shù)

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  2012-07-27 00:00

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  掃描電子顯微鏡的應(yīng)用[詳細(xì)]

  2010-07-20 00:00

  操作手冊(cè)

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• 掃描電子顯微鏡的主要性能

  　掃描電子顯微鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。掃描電子顯微鏡用于材料領(lǐng)域,用于生命科學(xué)領(lǐng)域。掃描電子顯微鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級(jí)的物鏡設(shè)計(jì)，提供高低真空成像功能，可對(duì)各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界領(lǐng)先的X射線分析技術(shù)。革命性的的設(shè)計(jì)，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時(shí)還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺(tái)為五軸全自動(dòng)控制。標(biāo)準(zhǔn)的GX率無(wú)油渦輪分子泵能夠滿(mǎn)足快速的樣品更換和無(wú)污染(免維護(hù))成像分析。 　　掃描電子顯微鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，掃描電子顯微鏡快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。[詳細(xì)]

  2019-01-02 15:49

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  2016-10-19 17:54

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  2014-09-03 00:00

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• 掃描電子顯微鏡的工作原理講解

  工作原理： 　　掃描電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理，成像在顯示系統(tǒng)上。 　　試樣可為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序做柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號(hào))，二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，掃描電子顯微鏡得到反應(yīng)試樣表面形貌的二次電子像。[詳細(xì)]

  2019-02-22 09:08

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