精密電子萬能試驗(yàn)機(jī) – Autograph AGS-X系列
等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備（ALD）- TFS200
藍(lán)岸探針臺M系列M-300
藍(lán)岸探針臺SA系列SA-300
藍(lán)岸探針臺FA系列FA-2000
阻抗變化顯微鏡TIVA
產(chǎn)品簡介：
Semicaps是一家先進(jìn)的芯片漏電定位設(shè)備制造商，公司產(chǎn)品涵括正置、倒置、靜態(tài)、動態(tài)各種應(yīng)用的機(jī)型，世界TOP50的半導(dǎo)體公司很多是他的客戶。在Lock in信號增強(qiáng)技術(shù)和SIL鏡頭（納米線寬偵測）技術(shù)領(lǐng)域，位于行業(yè)前列。2013年Semicaps和儀準(zhǔn)合作正式進(jìn)入中國，憑借著產(chǎn)品的先進(jìn)性、合理的價(jià)格以及完善的售后服務(wù)體系，迅速得到中國廣大客戶的認(rèn)可。
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漏電定位手段有三種
1、偵測光子（EMMI) 2、激光刺激偵測阻抗變化(TIVA&VBA） 3、偵測熱（Thermal） |
產(chǎn)品特性 ● 可用于晶片、晶片零件 和封裝期間的正反面分析 ● 高穩(wěn)定的系統(tǒng)可探測出FIB鍍出的測試盤 ● 兼容第三方的探測站、探測板和探測臂 ● 高分辨率工作臺，重復(fù)精度達(dá)到0.5μm ● 可選中心折射和屈光的固體浸入式鏡頭（RSIL專利） ● 可選CAD接口 ● 兼容熱管理解決方案 ● 技術(shù)配備包含以下幾種 ● 激光定時(shí)抬頭（LTP） ● 高敏感度的激光掃描光學(xué)顯微鏡（SOM） 靜態(tài)：TIVA, OBIRCH 動態(tài)：LADA, SDL ● 光發(fā)射顯微鏡 （PEM），可選InGaAs 或者 Si-CCD攝像頭 ● 熱顯微鏡（THM），配備InSb攝像頭 |
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具體規(guī)格如下：
Si探測器 | 采集晶片 | 硅基芯片 |
像素 | 1024 × 1024 pixel | |
像素尺寸 | 13 微米 × 13 微米 | |
晶片尺寸 | 13.3毫米 × 13.3 毫米 | |
噪音 | 6 electrons rms | |
冷卻方式 | 電制冷+水冷 | |
探測器晶片低降溫 | -70°C | |
冷卻時(shí)間 | 小于10分鐘（常溫至-70°C） | |
InGaAs探測器 | 采集晶片 | 銦砷化鎵晶片 |
像素 | 640 × 512 pixel | |
像素尺寸 | 20 微米 x 20 微米 | |
晶片尺寸 | 12.8毫米 x 10.24 毫米 | |
冷卻方式 | 電制冷+水冷 | |
探測器晶片低降溫 | -70°C | |
冷卻時(shí)間 | 小于10分鐘（常溫至-70°C） | |
Thermal探測器 | 晶片類型 | MCT |
像素 | 640 × 512 pixel | |
像素尺寸 | 15 微米 | |
晶片尺寸 | 9.6 毫米 x 7.68 毫米 | |
冷卻方式 | Stirling cooled | |
探測器晶片低降溫 | 80k | |
TIVA模塊 | 激光部分 | 激光能量：500毫瓦 |
電流源部分 | 配置Keithely2450規(guī)格如下： | |
主控臺 | 移動方式 | 電腦+手搖桿雙控制 |
X-Y-Z移動范圍 | 50*50*100 毫米 | |
X-Y移動解析度 | 0.1微米 | |
Z移動解析度 | 0.02微米 | |
光學(xué)顯微鏡 | 品牌 | Semicaps定制 |
目鏡 | 10X一對 | |
物鏡 | 2.5x,5x,20x,HR50x(100x選配） | |
探針臺 | 尺寸 | 6、8、12寸單雙面探針臺可選 |
電壓范圍 | 3000V以下可選 | |
電流范圍 | 直流10A以內(nèi)；脈沖40A以內(nèi)可選 | |
探針座移動精度 | 0.7微米 | |
減震臺 | 減震方式 | 大理石+減震氣囊雙防震系統(tǒng) |
減震效果 | 97%@10Hz |
SEMICAPS SOM 1100
立式熱點(diǎn)檢測微光顯微鏡
InGaAs 探測器 | 采集晶片 | 銦砷化鎵晶片 |
像素 | 640*512 pixel | |
像素尺寸 | 20 微米×20 微米 | |
晶片尺寸 | 12.8 毫米 x 10.24 毫米 | |
冷卻方式 | 電制冷+水冷 | |
探測器晶片最*低降溫 | -70°C | |
冷卻時(shí)間 | 小于 10 分鐘（常溫至-70°C） | |
TIVA 模塊 | 激光部分 | 激光脈沖能量：500mW |
電流源部分 | 配置 Keithely2450 規(guī)格如下： | |
主控臺 | 移動方式 | 電腦+手搖桿雙控制 |
X-Y-Z 移動范圍 | 50*50*100 毫米 | |
X-Y 移動解析度 | 0.1 微米 | |
Z 移動解析度 | 0.02 微米 | |
光學(xué)顯微鏡 | 品牌 | Semicaps 定制 |
目鏡 | 10X 一對 | |
物鏡 | 2.5x,5x,20x,HR50x(100x 選配） | |
探針臺 | 尺寸 | 6、8、12 寸單雙面探針臺可選 |
電壓范圍 | 3000V 以下可選 | |
電流范圍 | 直流 10A 以內(nèi)；脈沖 40A 以內(nèi)可選 | |
探針座移動精度 | 0.7 微米 | |
減震臺 | 減震方式 | 大理石+減震氣囊雙防震系統(tǒng) |
減震效果 | 97%@10Hz |
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1117次EMMI/Obirch微光顯微鏡
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已咨詢1328次失效分析系統(tǒng)
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島津 AutographAGS-X系列為多種應(yīng)用提供卓越的性能和實(shí)用的試驗(yàn)解決方案。AGS-X系列提供高級控制和直觀的操作，為強(qiáng)度評估設(shè)定了新標(biāo)準(zhǔn)，并以現(xiàn)代、時(shí)尚的設(shè)計(jì)提供超高的安全性。
專為高通量 3D 分析和樣品制備量身打造的 FIB-SEM 蔡司 Crossbeam 將場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）鏡筒的強(qiáng)大成像和分析性能與新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力相結(jié)合。無論是切割、成像或進(jìn)行 3D 分析，Crossbeam 系列都能極大地提升您的應(yīng)用體驗(yàn)。使用 Gemini 電子光學(xué)系統(tǒng)，您可以從掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中獲取真實(shí)的樣品信息。Ion-sculpto
微米級芯片瞬態(tài)熱特性測試系統(tǒng)用于測量芯片瞬態(tài)結(jié)溫、熱阻組成、熱容組成等熱特性參數(shù)。系統(tǒng)主要構(gòu)成包括：紅外熱像儀、熱阻測試臺、電源、數(shù)據(jù)采集及分析系統(tǒng)（工作站電腦）、恒溫臺等。
Mantis 檢測顯微鏡被用于新品首件檢測（FAI），確保生產(chǎn)出來的首件產(chǎn)品 100% 合格。在行業(yè)內(nèi)，生產(chǎn)同批其它產(chǎn)品之前，需要確保從SMT裝配線下線的首件產(chǎn)品完美無瑕。
無需占用過多寶貴的地面面積：Cougar EVO是一種智能檢測系統(tǒng)，可用于SMT和半導(dǎo)體行業(yè)以及實(shí)驗(yàn)室中高效可靠的檢測 – 占地面積僅1平方米。
Cheetah EVO專為滿足工業(yè)4.0的要求而設(shè)計(jì)，能夠在SMT和半導(dǎo)體行業(yè)以及實(shí)驗(yàn)室中實(shí)現(xiàn)高效可靠的檢測。
新加坡Semicaps
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