KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移，使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。

KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。該儀器的力荷載和位移測量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測試擴(kuò)展選項(xiàng)，包括樣品加熱、連續(xù)剛度測量、

KLA公司全系列的力學(xué)測試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器， iNano臺式納米壓痕儀。對納米壓痕物理模型和優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解，以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì)。

透射電鏡多尺度、多視角（明、暗場像，電子衍射， 化學(xué)成分）的實(shí)驗(yàn)分析能力，基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。

為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。

NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動(dòng)態(tài)力

FT-NMT04納米機(jī)械測試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。

InSEM HT（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱尖端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。